方块电阻测试仪

 方块电阻测试仪  st-21

产品说明：

方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国a.s.t.m标准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ito透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型lcd显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

产品特点：

采用大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定，低功耗；

以大屏幕lcd显示读数，直观清晰；

采用单个电池供电，带电池欠压指示；

重量≤300g，体积≤175mm×90mm×42mm;

特制之手握式探笔，球形探针，镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜；

探头带抗静电模块；

技术参数：

测量范围：按方块电阻量值大小分为二个量程档：
  1.方块电阻 1.00～199.99ω/□；
  2.方块电阻 10.0～1999.9ω/□；
 Zui小分辨率：0.01ω/□

恒流源：测量过程误差：≤±0.8%

模数转换器：量程：0～199.99mv；
 分辨率：10μv；
 方式：lcd大屏幕显示；极性，超量程均自动显示；小数点同步显示；

测量不确定度：在整个量程范围内，测量不确定度≤5%

四探针探头规格：间距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500mω

电源：9v叠层电池1节

可选配hp系列或sp型四探针探针头。