涂镀层厚度测试

目的：

检查涂覆、电镀、化学镀所形成镀层厚度及其镀层均匀性

涂/镀层产品来料厚度检验

方法：

截面法（仲裁方法）

x射线荧光膜厚法

依据标准：

截面法：gb/t 6462-2005，astm b 487-85(2002)， astm b748-1990(2010)

x射线荧光膜厚法：astm b 568-98，gb/t 16921-2005，iso 3497

典型图片：

x射线荧光膜厚法

具体可针对如sn/fe（基材）、zn/cu（基材）、ni/cu（基材）、cr/ni/fe（基材）、 au/ni/cu（基材）等数十种电镀工艺镀层进行厚度测量，具有测量精度高、简便快捷、无损的优点，特别是对微薄镀层厚度（一般指小于0.2微米）测量效果较佳。