射频QFN48socket QFN48合金探针测试座老化座

更新时间：2019-05-23 16:58:40 信息编号：6316532 发布者IP：113.87.131.48 浏览：131次

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※ 采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便;

※ 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;

※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层，接触可靠，而不会损伤锡球；

※ 高精度的定位槽和导向孔，保证IC定位，测试效率高；

※ 测试频率可达9.3GHz；

※ 用途：集成电路应用功能验证测试；

※ 可根据用户要求定做各种阵列的socket

※ 有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择,操作方便；

※ 可根据用户要求定做各种阵列的socket

适用于IC设计公司作芯片的样片功能验证使用

芯片封装参数：QFN48 间距0.5mm 尺寸7*7mm
根据客户要求，达到3GHZ频率，电流200mA

采用进口探针，测试寿命可达8-10W次

相关产品：QFN48测试座 , 射频IC测试座 , ICsocket , 老化座 , 探针座

所属分类：中国电子元件网 / 针座、插针
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