无接触式硅片厚度、TTV、电阻率测量仪Dsi2000
信息编号:1740869 发布者IP:140.206.255.237 浏览:664次- 供应商
- 上海双尔电子科技有限公司 商铺
- 认证
- 报价
- 请来电询价
- 所在地
- 上海市闵行区剑川路951号5幢2层A2039室
- 联系电话
- 021-34150813
- 手机号
- 13916690854
- 联系人
- 宁伟 请说明来自顺企网,优惠更多
- 让卖家联系我
产品详细介绍
本设备是一款手动无接触式测量仪,采用测量原理为电容法和涡流法,测量操作简单,强大的数据处理功能,支持多种格式的数据报告。
测量指标如下:
硅片规格:
方片:125x125mm、156x156mm
圆片:3″、4″、5″、6″、8″
测试功能:
厚度:单点及多点厚度
TTV:总厚度偏差
体电阻率:单点及多点体电阻率
厚度指标:
测量范围:150μm-1000μm(可调)
偏差:≤±1.0μm
重复性:1σ≤0.2μm
长时间稳定性(10小时:1σ≤0.15μm
TTV指标:
测量范围:0.0μm-200μm
偏差:≤±0.5μm
重复性 :1σ≤0.2μm
电阻率指标:
测量范围:0.1Ω.cm-30Ω.cm
偏差:≤±3%*R
重复性:1σ≤1.5%*R
测试环境要求:
温度范围:15~27℃
湿度范围:35%~85%