无接触式晶圆几何参数:厚度、TTV、弯曲度、翘曲度测量仪-Dsi800
编号:1740885 IP:140.206.255.237 浏览:3808次- 供应商
- 上海双尔电子科技有限公司 商铺
- 认证
- 报价
- 请来电询价
- 所在地
- 上海市闵行区剑川路951号5幢2层A2039室
- 联系电话
- 021-34150813
- 手机号
- 13916690854
- 联系人
- 宁伟 请说明来自顺企网,优惠更多
- 让卖家联系我
产品详细介绍
DSi800手动无接触式晶圆参数测量仪,是一款高精度精密测量仪器。测量原理为电容法,可测量参数有厚度、
TTV、Warp、Bow(可选配 2"、3"、4"、5"、6"、8"等晶圆环 ),同时可以测量 TIR、FPD等晶圆几何参数。
硅片要求规格:晶圆 2"、 3"、4"、5"、6"、8"
测量功能:
单点及多点厚度
TTV:总厚度偏差
Warp:翘曲度
Bow:弯曲度
测量指标:
厚度范围: 150-1000μm 测量误差::≤±1.0μm 重复性
1σ: ≤0.2μm
TTV范围:
0.0-200.0μm 测量误差:≤±1.0μm 重复性
1σ::≤0.5μm
Warp范围:
500μm
测量误差:≤±3.0μm 重复性 1σ::≤0.5μm
Bow 范围:
±500μm
测量误差:≤±4.0μm 重复性 1σ::≤0.5μm
测量环境要求温度范围: 18-28℃
湿度范围: 35-80%
电源要求: 220VAC/50HZ
设备尺寸: 580mm(L)×440mm(W)×500mm(H) (以实物为准)
本设备主要适用于IC行业、蓝宝石及砷化镓晶圆几何参数测量,其测量功能可代替ADE6034。本设备配备有独立的电脑主机,数据处理非常的方便,尤其还有3D立体几何模拟图形,可以非常形象直观的从被测晶圆模拟的图形上看出来晶圆的外观弯曲平整程度。