


尼康MF‑501+MFC‑200光栅数显高度计

尼康MF‑501+MFC‑200是日本Nikon进口接触式精密高度测量系统,由MF‑501测量测头与MFC‑200数显显示器组合而成,搭配大理石/陶瓷测量基座,主要完成工件高度、段差、台阶、厚度、间隙等几何尺寸高精度检测,广泛用于质检实验室与生产检测工位,是工业几何量计量常用仪器。
MF‑501 测头 | 测量量程 | 0‑50mm |
Zui小读数值 | 0.1μm;可切换 0.5μm /1μm | |
测量速度 | 500mm/sec 以下 | |
测定力 | 下方向 115‑165gf,横向约 65‑125gf | |
设备重量 | 约 460g | |
MFC‑200 数显控制器 | 显示方式 | LED 数字显示 |
具备置零复位、超差提示功能,配备 RS‑232C 数据输出接口,可外接打印机、电脑采集测量数据 | ||
可适配多种测针:标准型、直针型、塑胶球型、偏心球型、平底型、滚动轴承型测针,满足不同工件测量需求 | ||
MF‑501测量测头 | 高精度光栅测头,接触式采集位移数据,实现微米级位移采集 |
MFC‑200数显显示器 | 数值显示面板,完成读数、清零、单位切换,支持数据对外输出 |
测量基座 | 陶瓷/大理石平台,提供高平面度基准,减少测量基准带来的误差 |
升降支架组件 | 可手动调节测头高度,适配不同被测样品 |
可选配件 | 各类形状测针、数据通讯线缆、外置打印机 |
1.测量精度高,Zui小分辨率可达 0.1μm,可切换多档精度,兼顾高精度与常规测量场景;
2.接触式测量,测力稳定,适合薄片、小零件、台阶件的高差、厚度检测;
3.操作简便,一键置零复位,工位可快速完成样品比对测量;
4.数据输出能力,RS‑232通讯接口,可把测量数据导出,用于记录、统计、SPC 分析;
5.测针可更换,丰富探针选型,适配平面、曲面、微孔、薄壁件等多种被测工件;
6.搭配高刚性基准平台,抗形变,保障重复测量稳定性。
1.机械加工:零部件台阶高度、段差、厚度尺寸检测;
2.电子/电池:电子元器件、电池组件、精密垫片高度测量;
3.半导体:半导体器件、芯片配件微小高差检测;
4.汽车零部件:精密汽配零件尺寸公差检验;
5.五金金属:金属加工件、冲压件、模具样品实验室质检。

尼康MF‑501+MFC‑200光栅数显高度计
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