尼康MF‑501+MFC‑200光栅数显高度计

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供应商
常州首丰仪器科技有限公司
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常州首丰仪器科技有限公司
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人民币¥24000.00元每件
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产品详细介绍

尼康MF‑501+MFC‑200光栅数显高度计


产品概述

尼康MF‑501+MFC‑200是日本Nikon进口接触式精密高度测量系统,由MF‑501测量测头与MFC‑200数显显示器组合而成,搭配大理石/陶瓷测量基座,主要完成工件高度、段差、台阶、厚度、间隙等几何尺寸高精度检测,广泛用于质检实验室与生产检测工位,是工业几何量计量常用仪器。


核心技术参数

MF‑501 测头

测量量程

0‑50mm

Zui小读数值

0.1μm;可切换 0.5μm /1μm

测量速度

500mm/sec     以下

测定力

下方向 115‑165gf,横向约 65‑125gf

设备重量

约 460g

MFC‑200 数显控制器

显示方式

LED   数字显示

具备置零复位、超差提示功能,配备 RS‑232C 数据输出接口,可外接打印机、电脑采集测量数据

可适配多种测针:标准型、直针型、塑胶球型、偏心球型、平底型、滚动轴承型测针,满足不同工件测量需求


设备结构组成

MF‑501测量测头

高精度光栅测头,接触式采集位移数据,实现微米级位移采集

MFC‑200数显显示器

数值显示面板,完成读数、清零、单位切换,支持数据对外输出

测量基座

陶瓷/大理石平台,提供高平面度基准,减少测量基准带来的误差

升降支架组件

可手动调节测头高度,适配不同被测样品

可选配件

各类形状测针、数据通讯线缆、外置打印机

 

主要功能特点

1.测量精度高,Zui小分辨率可达 0.1μm,可切换多档精度,兼顾高精度与常规测量场景;

2.接触式测量,测力稳定,适合薄片、小零件、台阶件的高差、厚度检测;

3.操作简便,一键置零复位,工位可快速完成样品比对测量;

4.数据输出能力,RS‑232通讯接口,可把测量数据导出,用于记录、统计、SPC 分析;

5.测针可更换,丰富探针选型,适配平面、曲面、微孔、薄壁件等多种被测工件;

6.搭配高刚性基准平台,抗形变,保障重复测量稳定性。

 

典型应用领域

1.机械加工:零部件台阶高度、段差、厚度尺寸检测;

2.电子/电池:电子元器件、电池组件、精密垫片高度测量;

3.半导体:半导体器件、芯片配件微小高差检测;

4.汽车零部件:精密汽配零件尺寸公差检验;

5.五金金属:金属加工件、冲压件、模具样品实验室质检。


尼康MF‑501+MFC‑200光栅数显高度计


所属分类:中国仪表网 / 高度计、高度尺
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