OI检测设备 双面上下对检扫描平台

厦门越昌科技 · AOI上下对检扫描平台
—— 双面同步扫描，上下表面一次成检 ——

在电子制造与精密组装领域，产品上下表面的缺陷检测长期依赖多台设备或多次翻转工序，效率与覆盖率难以兼得。越昌科技推出的“AOI上下对检扫描平台”，以双面同步扫描架构为核心，为自动化光学检测提供了上下表面一次成检的完整解决方案。

【核心应用与优势】

1. 3C电子与PCB组装：一次全检
针对手机中框、PCB板、FPC柔性电路板的AOI检测。采用上下对置的相机与光源模组，配合精密位移台实现同步扫描。被测件一次通过即可完成双面图像采集，直线电机驱动确保过程平稳，无图像拖影或漏检。

2. 半导体与精密零组件：微米级成像
针对芯片封装、连接器端子共面度检测。搭载高分辨率相机，精密运动控制逐行扫描，清晰呈现金线弧高、焊球形态等细微特征。上下对检架构避免了二次装夹带来的定位误差。

3. 新能源与精密五金：批量效率提升
针对锂电池极片、精密冲压件。可集成至自动化产线，开放控制接口支持与现有MES系统对接，自动判定分拣，助力企业将质量控制从抽检推向全检。

【灵活集成，按需定制】

支持单相机或双相机灵活配置。

上下模组间距可调，适配不同厚度工件。

气浮或高刚性导轨可选，平衡精度与成本需求。

从3C电子到半导体封装，越昌科技以精密运动控制与双面扫描技术，为AOI检测提供高效可靠的平台方案。

欢迎通过平台留言或在线咨询，获取详细技术参数与定制方案！