英国Ossila四点探针材料薄层电阻、电阻率和电导率试验台T2001A3
更新时间:2024-10-06 09:00:00 信息编号:5052452 发布者IP:116.30.193.54 浏览:15次- 供应商
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- 认证
- 资质核验:已通过营业执照认证入驻顺企:第4年主体名称:深圳市嘉士达精密仪器有限公司组织机构代码:91440300MA5GUJ348T
- 报价
- 请来电询价
- 品牌
- 英国Ossila
- 型号
- T2001A3
- 作用
- 材料薄层电阻、电阻率和电导率测试仪
- 关键词
- Ossila四点探针,T2001A3,薄层电阻,电导率测试
- 所在地
- 西乡街道臣田社区宝民二路东方雅苑A100
- 联系电话
- 4006608810
- 手机号
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- 经理
- 徐小凤 请说明来自顺企网,优惠更多
产品详细介绍
四点探针是测量材料薄层电阻Zui常用的设备。薄层电阻是材料的电阻率除以其厚度,表示通过导电/半导体材料的薄正方形的横向电阻。该测量使用排列成一行的四个探针,每个探针之间的间距相等。电流在外部两个探针之间通过,导致内部两个探针间的电压降低。通过测量电压的这种变化,可以计算出薄层电阻。
Ossila四点探针系统是一种易于使用的工具,用于快速测量材料的薄层电阻、电阻率和电导率。
Ossila四点探针以Ossila源测量单元为核心,是一种低成本的系统,可实现宽的测量范围。探头使用弹簧加载触点而不是尖锐的针头,防止损坏精细的样品,例如厚度在纳米量级的聚合物薄膜。价格包括一个四点探针、内置源测量单元、易于使用的PC软件和一个ITO涂层玻璃基板。测量薄层电阻,以增强其材料特性和薄膜开发计划的能力。
四点探针能够提供1μA至200 mA之间的电流,可以测量低至100μV至10 V的电压。该系统可以测量100 mΩ范围内的薄层电阻/□ 至10 MΩ/□, 使得能够表征广泛的材料。
四点探头的设计考虑到了精细样品的测量,采用镀金、柔和的弹簧加载触点和圆形jianduan。这导致60克的恒定接触力,防止探针刺穿脆弱的薄膜,同时仍然提供良好的电接触。
四点探针测量规格:
电压范围:±100μV至±10 V
电流范围:±1μA至±200 mA(5个范围)
薄层电阻范围:100 mΩ/□ 至10 MΩ/□ (欧姆/平方)
薄层电阻 |
准确度 |
jingque度 |
测量范围 |
100 mΩ/□ |
±8% |
±3% |
200 mA |
1 Ω/□ |
±2% |
±0.5% |
200 mA |
10 Ω/□ |
±1% |
±0.5% |
200 mA |
100 Ω/ |
±1% |
±0.05% |
20 mA |
1 kΩ/□ |
±1% |
±0.03% |
20 mA |
10 kΩ/□ |
±1% |
±0.02% |
2000 µA |
100 kΩ/□ |
±2% |
±0.05% |
200 µA |
1 MΩ/□ |
±8% |
±0.5% |
20 µA |
10 MΩ/□ |
±30% |
±5% |
20 µA |
探头间距1.27 mm(0.05“)
矩形样本大小范围
长边Zui小值:5 mm(0.20“)
短边Zui大值:60 mm(2.36“)
圆形样品尺寸范围(直径)5 mm至76.2 mm(0.20“x 3.00”)
Zui大样品厚度10 mm(0.39“)
外形尺寸(宽x高x长)145mmx 150mmx 240mm(5.71英寸x 5.91英寸x 9.45英寸)
请注意,该系统不适用于硅或其他自然形成绝缘氧化物层的材料。为了测量这种材料,氧化物层需要被探针穿透,这对于该系统使用的弹簧加载的圆形jianduan探针来说可能是不可能的。
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品牌:德国FEMTO