光敏二极管检测机构,光敏二极管动态电阻检测

更新:2025-05-12 10:29 编号:39495859 IP:60.168.129.38 浏览:3次
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北京清析技术研究院
组织机构代码:
91110105MA00176R05
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品牌
北京清析技术研究院
检测类型
第三方检测机构
关键词
光敏二极管,光敏二极管检测,光敏二极管检测机构,光敏二极管动态电阻,光敏二极管动态电阻检测
所在地
北京市海淀区王庄路1号B座6层7-C房间(住所)
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产品详细介绍

光敏二极管是一种能够将光信号转换为电信号的半导体器件。它通常使用一个具有光敏特征的PN结,对光的变化非常敏感,具有单向导电性。光敏二极管利用光照强弱来改变电路中的电流,从而将光信号转换为电信号。


公司优势:

1、检测周期短

2、先进的仪器设备以及强大的工程师团队

3、独立的实验室,合理分工

4、签订保密协议,注重客户隐私

5、数据严谨:出具的报告经多层审核


检测流程:

1、沟通需求:了解待检测项目,确定检测范围;

2、报价:根据检测项目及检测需求进行报价;

3、签约:签订合同及保密协议,开始检测;

4、完成检测:检测周期会根据样品及其检测项目/方法会有所变动,具体可咨询检测顾问;

5、出具检测报告,进行后期服务;


检测范围:

光敏二极管、光电二极管、PIN结型光电二极管、雪崩光电二极管等


检测项目:

质量检测、光敏性检测、指标测试、电流检测、性能测试、伏安特性、正负极检测、正向特性、反向特性、击穿特性、反向电流、动态电阻、电压温度系数等


检测标准(部分):

1、SJ 2216-1982 硅光敏二极管

2、SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法

3、SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法

4、SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法

5、SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法

6、SJ 2218-1982 半导体光敏二极管型光耦合器

7、SJ 2354.9-1983 PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法

8、YD/T 835-1996 雪崩光电二极管检测方法

9、SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

10、YD/T 701-1993 半导体激光二极管组件测试方法


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