ST2571B便携式多功能数字四探针方块电阻测试仪

st2571b型

多功能数字式方块电阻测试仪简介

一、结构特征

本款为便携式，见附图

二、概述

st2571b型多功能数字式方块电阻测试仪是运用方形四探针keywell测量原理的多用途综合测量装置，它与直线四探针相比，消除了探针游离对测试结果的不利影响，大大提高度，并提高微区测试能力，

它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻（简称方阻），换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

本测试仪特赠设测试结果分类功能，Zui大分类10类

仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。

三、基本技术参数

1.测量范围、分辨率

电 阻： 1.0×10-3～ 200.0×103ω, 分辨率0.1×10-3～ 0.1×103ω

电 阻 率： 1.0×10-3～ 20.0×103ω-cm 分辨率0.1×10-3～ 0.1×103ω-cm

方块电阻： 1.0×10-3～ 20.0×103ω/□ 分辨率1.0×10-3～ 0.1×103ω/□

2.可测半导体材料尺寸

直 径： 测试台直接测试方式 φ15～130mm，其他方式不限.

长（或高）度： 测试台直接测试方式 h≤160mm, 其他方式不限.

3.量程划分及误差等级

4)工作电源：220v±10％, f=50hz±4％,pw≤5w

5)外形尺寸：w×h×l=11cm×4cm×16cm

净 重：≤1kg

四、详情请登陆苏州晶格电子有限公司官方网站http://www.jgdz.com.cn或

阿里巴巴诚信通商铺http://dhl7002.cn.alibaba.com

慧聪网买卖通商铺http://jgdz2010.b2b.hc360.com

查看《st2258b型多功能数字式四探针测试仪技术使用说明书》