类型 | 数字式电阻测量仪表 | 品牌 | JG晶格 |
型号 | ST2258A型多功能数字式薄膜方块电阻薄膜方阻测试仪 | 测量范围 | 电 阻 率: 10.0×10-3 ~ 20.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10000 Ω-cm(MΩ) |
测试电压 | 0-2(V) | 精度 | 0.5 |
重量 | 0.5(kg) |
st2258a型多功能数字式四探针测试仪简介
一、结构特征
二、概述
st2258a型多功能数字式四探针测试仪,薄膜方块电阻测试仪(自动量程)是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
本测试仪特赠设测试结果分类功能,Zui大分类10类
仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;自动转换量程;测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。
三、基本技术参数
1.测量范围、分辨率
电 阻: 1.0×10-3~ 200.0×103ω, 分辨率0.1×10-3~ 0.1×103ω
电 阻 率: 10.0×10-3~ 20.0×103ω-cm 分辨率0.1×10-3~ 0.1×103ω-cm
方块电阻: 10.0×10-3~ 20.0×103ω/□ 分辨率1.0×10-3~ 0.1×103ω/□
2.可测半导体材料尺寸
直 径: 测试台直接测试方式 φ15~130mm,其他方式不限.
长(或高)度: 测试台直接测试方式 h≤160mm, 其他方式不限.
3.量程划分及误差等级
量程 |
200.0 |
20.00 |
2.000 |
200.0 |
20.00 |
2.000 |
200.0 |
kω-cm/□ |
ω-cm/□ |
mω-cm/□ |
|||||
误差 |
±0.5%fsb±1lsb(在各量程范围内),超量程或欠量程可测量,但误差将随超欠程度而变大 |
4)工作电源:220v±10%, f=50hz±4%,pw≤5w
5)外形尺寸:w×h×l=20cm×7.5cm×18cm
净 重:≤1kg
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