三氯氢硅中痕量磷检测仪

更新时间:2014-12-15 12:52:34 信息编号:3183674 发布者IP:122.7.126.145 浏览:63次
供应商
滕州赛谱分析仪器有限公司 商铺
认证
资质核验:
已通过营业执照认证
入驻顺企:
12
主体名称:
滕州赛谱分析仪器有限公司
报价
人民币¥42000.00元每套
品牌
赛谱
型号
SP7890
所在地
山东省枣庄滕州市文昌路南段517号
联系电话
0632-5831177
手机号
15588237852
联系人
郑丽  请说明来自顺企网,优惠更多
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产品详细介绍

  (测定三氯氢硅中痕量磷专用仪器)

    一、           前言
    半导体硅材料中磷含量的高低,直接影响器件的电性能。随着硅材料研究及生产的不断提高,对于原材料三氯氢硅中磷的测试灵敏度、速度、准确度提出更高要求。
    三氯氢硅中杂质磷的分析,传统的方法为将杂质磷转变成磷钼杂多酸,再还原成磷钼蓝进行比色测定。在此基础上后来有改进,诸如经苯肟酮或硫氰化铵比色测定钼,或利用化学光谱法测出钼量进而间接换算出磷含量;加大取样量等。虽然在灵敏度上有一定提高,但都要经过使磷形成磷钼杂多酸这一过程。为要形成稳定的络合物来分离基本和消除杂质干扰,化学分离手续相当繁杂,分析时间长,而且,测定灵敏度也不能满足生产上的要求。
    滕州赛谱分析仪器有限公司www.gc2010.net 为了提高三氯氢硅中杂质磷分析灵敏度和速度,国内外相关科研人员做了大量工作。例如,有专家采用气相色谱法测定了三氯氢硅中以pcl3与pocl3形式存在的磷含量。然而,三氯氢硅中杂质磷还可能以其他形式存在(例如,pcl5、pscl3),因此,欲采用气相色谱法测定总磷含量,首先要保证样品中以各种形式存在的磷都能从分离柱中流出,这无疑是一项很艰巨的工作,至今尚未见到报道。又例如,有专家采用“icp—ms”法测定三氯氢硅中痕量杂质磷,测试方法虽然简捷,遗憾的是,测定灵敏度下限仅为0.3ppb,不能满足多晶硅生产工艺对三氯氢硅中杂质磷的分析要求(工艺要求三氯氢硅中杂质磷含量应小于0.1ppb)。
     
    二、  滕州赛谱分析仪器有限公司www.gc2010.net    测定三氯氢硅中痕量磷专用仪器“高温氢还原—火焰光度气相色谱仪”。
    针对上述现状,滕州中科谱专家级工程师经过多年在硅行业的丰富经验,与大量的切合实战分析,研制出测定三氯氢硅中痕量磷专用仪器“高温氢还原—火焰光度气相色谱仪”。进几年已在国内硅行业多个生产厂家得到应用,反应极好,与价格昂贵的“icp-ms”法比较有廉价实用,快速测定,痕量(≤0.06ppb)分析,耗材低等特性。对于快速反应指导三氯氢硅生产工艺,更加提纯硅产品,为社会提供更优质完美的单晶硅产品,是我司特别推出此套分析仪器的宗旨,也是您可信赖的合作伙伴。
                          
    gc-2010火焰光度分析仪总磷测定
    三氯氢硅———————————→多晶硅————→优质单晶硅产品
     
    三、           仪器的特点和指标
    1、 所测三氯氢硅中杂质磷含量为总磷含量;
    2、 三氯氢硅中杂质磷含量测定下限为0.06ppb;
    3、 测定手续简便只需用注射针筒向仪器注入三氯氢硅即可;
    4、 测定周期短,自注入三氯氢硅到测出磷化氢峰高(或面积)需时20分钟;
    5、 仪器结构简洁、直观,便于使用和维修。   
     
    仪器选购及售后服务
           在你购买仪器前协助你全面了解仪器的性能、特点,仪器选型的全面咨询服务。在您购买仪器后,我们可派专业技术人员前往您的单位进行仪器的首次安装、启动、调试。定期举办培训班,长期供应仪器的易损、易耗件。依国家行业标准,仪器实行三包,保质期十二个月,终身维修,自接到用户询问电话后,24小时内答复,若需到现场,48小时内到位,做好售后服务。

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