SE-RD-STD系列全光谱椭偏仪
更新时间：2024-06-19 18:56:30 信息编号：30566236 发布者IP：112.81.141.240 浏览：11次
- 供应商
- 无锡浩辉者新材料科技有限公司 商铺
- 认证
- 资质核验：已通过营业执照认证入驻顺企：第2年主体名称：无锡浩辉者新材料科技有限公司组织机构代码：91320206MA1Y6M31XR
- 报价
- 请来电询价
- 品牌
- 其他
- 型号
- SE-RD-STD
- 产地
- 详询
- 关键词
- 椭偏仪,光谱仪
- 所在地
- 无锡惠山经济开发区堰新路311号1号楼1518-12室
- 手机号
- 17717692194
- 联系人
- 周 请说明来自顺企网，优惠更多
- 让卖家联系我
产品详细介绍
全光谱椭偏仪——
● 桌上型膜厚量测设备
● 安装移动迅速便捷
● 适用于所有非金属膜质
● 多样化的应用选择
● 工业标准数据端口
全光谱椭偏仪——
|
规格 |
技术指标 |
|
衬底类型 |
透明或半透明衬底 |
|
光源 |
氙灯 |
|
光源寿命 |
>8760H |
|
光谱范围 |
300-1000nm |
|
入射角 |
70度（40度-90度 每5度可调） |
|
光斑直径 |
100x120μm(Min80x100um) |
|
测量时间（不对焦） |
<2S(单层模型),<约6s（多层模型） |
|
膜厚测量范围（单层膜） |
1nm-15μm |
|
对焦 |
自动讯号对焦 |
|
膜厚测量精度 |
<0.5nm(基于标片) |
|
折射率测量精度 |
<0.005(基于标片) |
|
厚度重复性精度： |
<0.5A（1 sigma 标准差,10times）（基于标准片） |
|
折射率重复性精度： |
<0.0005（1 sigma标准差,10times）（基于标准片） |
|
可测试膜层数量 |
≥2层 |
|
标片数量 |
2片 |
相关产品：椭偏仪 , 光谱仪
我们的其他产品
DSF900表面形状粗度测定机品牌：小坂研究所- SE800 (3D)表面粗度仪品牌：小坂研究所
- SE800-C5W (3D)表面粗糙度仪品牌：小坂研究所
- EF550A-M50/ M58轮廓形状测定机品牌：小坂研究所
- EF550A-G18/-G18D轮廓形状测定机品牌：小坂研究所
- EC600真圆度测定仪品牌：小坂研究所
- EC1550H圆柱度测定机品牌：小坂研究所
- EC1850H圆柱度机品牌：小坂研究所
- EC4100H真圆度仪品牌：小坂研究所
