晶圆电阻测量仪
更新时间:2024-05-16 18:06:07 信息编号:29632633 发布者IP:111.22.69.127 浏览:8次- 供应商
- 湖南瓦特颂半导体有限公司 商铺
- 认证
- 资质核验:已通过营业执照认证入驻顺企:第1年主体名称:湖南瓦特颂半导体有限公司组织机构代码:91430211MACU5XAL9P
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- 关键词
- 四探针,电阻测量,方阻测量,晶圆电阻测量
- 所在地
- 湖南省株洲市天元区新马动力创新园2.1期C2栋2楼
- 手机号
- 18216416659
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产品详细介绍
双系统控制模式:电脑控制+触摸屏控制
数据处理:测试数据可显示测试点的 X, Y 坐标,电流电压范围,电阻,电阻率等。
图谱功能画面:制图软件可根据样品形状,测量点数量和位置,测量点的方阻值绘出2D, 3D MAP图.
控制系统:机器是双系统控制模式,可电脑控制,也可以触摸屏控制
有伺服电机,高精度走位,探头压力传感器,设有多重压力感应保护机制。测量区域封闭无尘空间,减少污染。
设备基本参数
1. 方阻测量范围:1x10E-6ohm/sq~5x10E6ohm/sq
2. 四探针探头测量金属类型:铝 / 钛 / 镍钒 / 金 / 铜 等金属
3. 四探针探头测量金属厚度:100A~10μm
4. 四探针系统电流量程:1μA , 10μA , 100μA , 1mA , 10mA , 50mA , 500mA 七档
5. 四探针标准晶圆方阻重复性:1,≤±0.1%(同点静态测量)2,≤±0.2% (动态多点测量)
6. 四探针标准晶圆测量精度:≤±1%(典型晶圆)
7. 量测区域:以探针头的中心到晶圆的边缘距离3mm
8. 测试图形:1,极地图形(在对位晶圆的notch) 2,矩形图形(无效边缘排除以外进行选择) 3,直线扫描(可以是直径,半径或沿直径的点到点,Zui小距离0.1mm) 4,用户自定义(使用模板)
9. 测量图形表示:可以为轮廓图,3D图,water上显示的数据图数据表示
10. 探针自清洁功能:陶瓷片清洁
11. 所有设备测量的数据文件可以被导入到Excel,Word文档,工作站等,数据图形可以合并
相关产品:四探针 , 电阻测量 , 方阻测量 , 晶圆电阻测量