LJZ型双列集成电路老化测试插座
更新时间:2016-06-22 13:08:28 信息编号:2121448 发布者IP:122.97.216.104 浏览:73次- 供应商
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产品详细介绍
ljz型双列集成电路老化测试插座
该系列插座适用于dip封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、、科研院所、电子、通讯
产品型号及规格;
ljz-8j、14、16、18、24、28、40
产品型号及规格;
ljz-8j、14、16、18、24、28、40
主要技术指标;
间距;2.54mm
环境温度;-55℃—+155℃
接触电阻;≤0.01欧 工作电压;dc500v
单脚插入力;≤0.2kg
弹片金层厚度;1um镍3um金