单排IC集成电路老化测试座
更新时间:2016-06-22 13:08:10 信息编号:2121351 发布者IP:122.97.216.104 浏览:99次- 供应商
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产品详细介绍
单排ic集成电路老化测试座
该系列插座适用于dip封装的单排直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、、科研院所、电子、通讯
产品型号及规格;
ic-10j ic-21j
主要技术指标;
材料:陶瓷 磷青铜
间距;2.54mm 环境温度;-55℃—+255℃
接触电阻;≤0.01欧 工作电压;dc500v
单脚插入力;≤0.2kg 弹片金层厚度;1um镍3um金
插拔寿命;高低温状态下插拔寿命;2000-3000次
间距;2.54mm 环境温度;-55℃—+255℃
接触电阻;≤0.01欧 工作电压;dc500v
单脚插入力;≤0.2kg 弹片金层厚度;1um镍3um金
插拔寿命;高低温状态下插拔寿命;2000-3000次