透射式电子显微镜TEM测试分析,形貌结构
更新时间:2024-09-19 08:00:00 信息编号:5005199 发布者IP:27.38.9.202 浏览:172次- 供应商
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- TEM测试,透射电镜,
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产品详细介绍
透射式电子显微镜TEM测试分析,用于纳米载药颗粒和纳米诊断探针等纳米材料的尺寸、形貌、结构和成分分析。
透射式电子显微镜设备参数如下: 设备型号:FEI Tecnai G2 F20 S-Twin技术指标:
点分辨率≤0.24nm
线分辨率≤0.102nm
信息分辨率≤0.14nm
加速电压:20kV-200kV;加速电压连续可调
放大倍数:Zui小25倍,Zui大≥ 1,000,000倍
能谱仪(EDS):分辨率优于136eV (Mn Ka线)
分析元素范围:B5-U92
扫描透射(STEM):分辨率≤0.19 nm
放大倍数范围150x - 230Mx
数字化CCD照相系统:感应尺寸:4k×2.7k像素
像素大小≥9um×9um;动态范围≥14-bit
测试须知:
以下情况样品,拒绝进行测试:
1、铜网请使用200目或以上;测试中若发现碳膜破坏严重,将立即取出样品,以防止污染电镜;
2、测试样品颗粒一般应小于1um,测试中若发现颗粒过大易于脱落,须马上取出样品,避免掉落,防止污染电镜;
3、磁性样品会对电镜的电磁透镜造成伤害,本电镜拒绝测试;
4、低熔点样品(如铟、锡等),会产生相变,其蒸气污染电镜,本电镜拒绝测试;
5、高聚物裂解温度需高于350℃,测试时请附上TGA曲线图,否则拒绝测试;
6、对于有毒、易挥发、腐蚀性和放射性样品,本电镜拒绝测试;
相关产品:TEM测试 , 透射电镜
主要经营:环境可靠性及失效分析、眼图测试、SI信号完整性测试、信号一致性验证、成分分析RT-IR/EDS、DSC、TGA、DMA、TMA;材料失效分析:声学扫描分析(C-SAM)、金相切片、X射线透射分析(X-ray)、
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