EDX 4500H X荧光光谱仪 元素含量分析仪

edx 4500h x荧光光谱仪是利用xrf检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对si、p、s、al、mg等轻元素具有良好的激发效果，利用xrf技术可对高含量的cr、ni、mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

性能特点

高效超薄窗x光管，指标达到国际先进水平
Zui新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000cps，精度更高。在合金检测中效果更好
sdd硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
天瑞仪器专利产品—信噪比增强器（sne），提高信号处理能力25倍以上
低能x射线激发待测元素，对si、p等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

技术参数

产品型号：edx 4500h
产品名称：x荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（na）到铀（u）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
分析精度：0.05% （含量高于96%以上的样品、21次测试稳定性）
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5ev
管压：5kv-50kv
管流：50μa-1000μa
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：ac 110v/220v
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65kg

标准配置

高效超薄窗x光管
sdd硅漂移探测器
数字多道技术
信噪比增强器 sne
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

应用领域

合金检测、全元素分析、有害元素检测（rohs、卤素）