XRF,X射线荧光测厚仪,镀层厚度测试
更新时间:2015-11-24 17:37:13 信息编号:2710544 发布者IP:113.89.99.216 浏览:164次- 供应商
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- 资质核验:已通过营业执照认证入驻顺企:第12年主体名称:深圳市美信检测技术有限公司
- 报价
- 人民币¥1000.00元每个
- 关键词
- 荧光测厚仪
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- 深圳市宝安区石岩镇松白路方正科技园A5栋一楼
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产品详细介绍
x射线荧光分析(xrf)
x射线荧光分析(xrf)是一种用于量化固态和液态样品的元素组成的非破坏性的技术。x射线被用于激发样品上的原子,使之放射出带有存在的每种元素能量特征的x射线。然后测量这些x射线的能量及强度。xrf能够探测浓度范围从ppm到
的na-u元素。通过使用适当的参考标准, xrf可以准确的量化固态和液态样品的元素组成。 通过使用适当的参考标准,
xrf可以准确的量化固态和液态样品的元素组成。
xrf应用:
定性、半定量元素分析
测量达到几个微米的金属薄膜的厚度
金属合金的鉴定
xrf应用优点:
分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
非破坏性分析
制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析
x射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。
xrf应用局限性:
不能探测比na轻的元素
难于作分析,故定量分析需要标样
无剖面成像能力
容易受相互元素干扰和叠加峰影响
能分析试样深度为10 µm至30 µm
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