XRF,X射线荧光测厚仪,镀层厚度测试

更新时间:2015-11-24 17:37:13 信息编号:2710544 发布者IP:113.89.99.216 浏览:163次
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深圳市美信检测技术有限公司 商铺
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12
主体名称:
深圳市美信检测技术有限公司
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人民币¥1000.00元每个
关键词
荧光测厚仪
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深圳市宝安区石岩镇松白路方正科技园A5栋一楼
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产品详细介绍

 

x射线荧光分析(xrf)

    x射线荧光分析(xrf)是一种用于量化固态和液态样品的元素组成的非破坏性的技术。x射线被用于激发样品上的原子,使之放射出带有存在的每种元素能量特征的x射线。然后测量这些x射线的能量及强度。xrf能够探测浓度范围从ppm到 的na-u元素。通过使用适当的参考标准, xrf可以准确的量化固态和液态样品的元素组成。 通过使用适当的参考标准, xrf可以准确的量化固态和液态样品的元素组成。
xrf应用:
 定性、半定量元素分析 
 测量达到几个微米的金属薄膜的厚度
 金属合金的鉴定
xrf应用优点:
 分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
 非破坏性分析
 制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析
 x射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。 
xrf应用局限性:
 不能探测比na轻的元素 
 难于作分析,故定量分析需要标样 
 无剖面成像能力
 容易受相互元素干扰和叠加峰影响
 能分析试样深度为10 µm至30 µm

相关产品:荧光测厚仪
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