X射线荧光膜厚仪
更新时间:2013-10-14 15:18:05 信息编号:2498087 发布者IP:14.155.121.230 浏览:92次- 供应商
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产品详细介绍
博曼x射线荧光膜厚仪使用功能强大、操作简单的x射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。是一款全面强大的x射线荧光分析仪,能够检测各种大小的样品,满足镀层厚度测量和材料分析。新型号设计,快速分析(几秒)1-4层镀层厚度,多款规格,例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台,满足所有样品类型,开槽式样品舱可检测大面积样品,例如印制线路板等.符合iso3487和astm
b568检测方法.
x-射线管的距离也可测量,操作人员只需要调校样品焦距便可以测量。可测量:单一镀层:zn,
ni,cr,cu,ag,au,sn等。
二元合金层:例如fe上的snpb,znni和nip合金。
三元合金层:例如ni上的aucdcu合金。
双镀层:例如au/ni/cu,cr/ni/cu,au/ag/ni,sn/cu/brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如cr/nicu/plastic;fe。
博曼x射线荧光膜厚仪可分析的样品种类繁多,包括固体、液体、粉末、糊状物、薄膜等,检测从ppm级至高达百分含量的浓度范围,覆盖元素周期表中从al13到u92间的元素。
它的优势有高性能、高精度、长期稳定性:快速的分析带来生产成本Zui优化,测定元素厚度,优化的性能可满足广泛的元素测量.坚固耐用的设计:可靠近生产线或在实验室操作
,生产人员易于使用.简单的校准调试:在没有标准片时,经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果,方法建立只需几分钟,我们提供认证标准片以确保度(a2la
和 iso/iec17025),预置了多种校准参数.
博曼x射线荧光膜厚仪特别适合于小的镀层测量,如端子,连接器,细小的金线,在五金,汽车配件.线路板.卫浴,等行业.也有杰出的表现.可测量.单层.双层,合金层等多种镀层.
让客户满意,为客户创造大的价值是金东霖追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图。联系人:舒翠
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