供OTSUKA 高功能范围分光光谱仪MCPD-9800上海扬

更新时间:2013-04-04 12:54:17 信息编号:2075829 发布者IP:49.84.244.242 浏览:79次
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产品详细介绍

供OTSUKA 高功能范围分光光谱仪 MCPD-9800上海/扬州/苏州/无锡/南京/天津/北京/武汉/西安/杭州/济南/广州/合肥/镇江/常州/南通等地

产品特色:

1.亮部至暗部的曝光细节,的高动态范围检出能力,Zui适用于光通量评价。2.低迷光对应,Zui适合UV评价。相较于相同系列机型,迷光率仅约五分之一!3.Zui短5msec~65sec*1的曝光时间。4.特殊方式缠绕的光纤设计,展现更优异的量测再现性。5.轻量化设计,相较于同系列机型,减少约40%的体积与重量。

相关产品:

量测项目:

发光光谱量测

穿透率、吸收率光谱量测

反射率光谱量测

荧光量测

物体色量测

光源色量测(色度、辉度、照度)

膜厚量测

规格样式:

 

3683C

311C

2480C

波长范围

360 ~ 830 nm

360 ~ 1100 nm

240 ~ 800 nm

分光元件

光栅分光, F=3,f=85.8mm

感光元件

CCD影像传感器(电子冷却)

512ch

1024ch

512ch

1024ch

512ch

1024ch

解析能力

1.0nm

0.5nm

1.6nm

0.8nm

1.2nm

0.6nm

光纤规格

石英制光纤,金属包覆,固定口径∮12mm,长约2m

量测功能

发光光谱,穿透率、吸收率光谱,反射率光谱

尺寸重量

110(W) x 230(H) x 282(D)mm ,约6kg

应用范围:

  发光光谱分析仪系统
  反射光谱分析仪系统
  穿透、吸收光谱分析仪系统
  色度光谱分析仪系统
  光源光谱分析仪系统(色度/辉度/照度)
  膜厚光谱分析仪系统
  荧光光谱分析仪系统
  双折射相位差光谱分析仪
  微光学元件光谱分析仪系统

相关产品:
HM Series 积分半球/ FM Series全光束测定系统  高精度的光源全光束测定分析;

配 光 分 布  GP-1000;

CIE平均化LED光度  AL-1000;

量 子 効 率  QE-1000  量子效率测定系统  瞬时测定LED荧光材料的量子效率;

高速LED光学特性显示器  LE-4400/5400 

具体型号及技术要求欢迎来电咨询。

联系方式:

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苏州诺威特测控科技有限公司

Add:中国苏州市高新技术开发区金枫南路198号

联系人:夏雨

Tel:0512-66581379        Fax:0512-68702009

EMAIL:info@novtec.hk              公司网址:www.novtec.hk

所属分类:中国仪表网 / 其他光学仪器
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