xle-1型大平台金相检测显微镜是专为it行业大面积集成电路，晶片的质量检测而设计开发制造的。金相检测显微镜的特点：1.放大倍数：40倍至400倍；2.超大型载物台

技术参数

1. 机械筒长 160mm

物镜
数值孔径
有效工作距离（mm）
介质
4×
0.10
17.912
干
10×
0.25
6.544
干
20×
0.40
1.05
干
40×
0.65
0.736
干

3.目镜 10× 视场直径(mm) --18

4.放大倍数 40×--400×

5.载物台面积 350mmx255mm

纵向移动范围---200mm

横向移动范围---200mm

6.粗微动调焦范围 25mm,微调转动一圈样品升降0.2mm,格值0.002mm

7.光源钨卤素灯6v20w。内藏式连续调光电源

8.物镜转换器四孔式 (三孔式)

9.目镜筒三目镜 (双目镜)

金相显微镜 金相显微镜 联丰

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