薄膜厚度测定仪 ef-ii

一、用途

      ef-ii薄膜厚度测定仪又称（涂层测厚仪、测厚仪），主要用于测定金属薄膜涂层的厚度，ef-ii测厚仪采用非接触式两次对焦的光学测量法，附以最先进的电子对焦系统，使得测量的重复误差在 1-3μm 之间，利用 ccd 加监视器观察图像，比人眼观察更客观。该仪器使用方便、操作简单、测量误差小、精度高，ef-ii测厚仪广泛应用于电子工业、塑料、橡胶、机械等行业。

二.规格

      1.物镜:20x、40x

      2.总放大倍数：600x、200x （ 480线ccd ）

      3.工作距离：95mm

      4.工作台：30 × 70mm

      5、最大测量厚度： 2mm

      6、重复测量误差：1-3μm

三．仪器的成套性  

      1.主机：一台  

      2.ccd摄像头一个

      3.ccd适配镜一个  

      4.移动工作台一个

      5.内置电子对焦系统一套

      6.数字式千分表一个

      7.监视器一台