产品名称 | 苏州同步辐射吸收谱XAFS测试机构 |
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公司名称 | 广分检测技术(苏州)有限公司 |
价格 | .00/件 |
规格参数 | 服务内容:一站式检测分析测试服务 检测类型:第三方检测公司 服务范围:全国 |
公司地址 | 江苏省昆山市陆家镇星圃路12号智汇新城B区7栋 |
联系电话 | 0512-65587132 18662248592 |
同步辐射吸收谱(XAFS,X-ray Absorption Fine Structure)是一种强大的分析手段,可以揭示原子和分子层面的结构奥秘;本文将详细介绍同步辐射吸收谱(XAFS)的相关知识,包括原理、应用范围、谱图解析等方面,为大家提供关于原子和分子结构的深入见解。
一、原理
同步辐射吸收谱是一种基于X射线吸收的谱学技术,当同步辐射光源照射到样品上时,样品中的原子会吸收能量,产生电子跃迁。XAFS主要包括两个部分:近边区(XANES,X-ray Absorption Near-Edge Structure)和扩展边(EXAFS,Extended X-ray Absorption Fine Structure)。
1. 近边区(XANES):XANES反映了原子吸收边的精细结构,可以提供吸收原子的电子结构信息,如价态、对称性、轨道占据等。
2. 扩展边(EXAFS):EXAFS反映了吸收原子周围配位原子的信息,如配位原子种类、键长、配位数、无序度等。
二、应用范围
同步辐射吸收谱(XAFS)广泛应用于材料科学、环境科学、生物医学、化学等领域。
以下为几个应用实例:
1. 材料科学研究:XAFS可以用于研究金属合金、半导体、陶瓷等材料的组成、结构和性能关系。
2. 环境科学研究:XAFS可以用于分析污染物质中的有毒元素,如重金属等,了解其环境行为和生物效应。
3. 生物医学研究:XAFS可以用于研究生物大分子(如蛋白质、核酸)的结构和功能,以及金属离子在生物体中的作用和代谢机制。
4. 化学研究:XAFS可以用于研究分子和晶体中的原子配位环境、键长和键角等结构信息。
三、谱图解析
1. XANES谱图解析:通过比较实验谱与已知标准谱,可以确定吸收原子的价态、轨道占据等信息;此外,通过计算模拟谱,可以进一步揭示原子电子结构的细节。
2. EXAFS谱图解析:通过对谱图进行拟合,可以得到吸收原子周围的配位原子种类、键长、配位数等信息;此外,利用小波变换等方法,可以区分出不同配位原子的距离和种类。