上海普陀国产USB3.0GEN1夹具替代厂商

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上海普陀国产USB3.0GEN1夹具替代厂商

USB3.0夹具销售国产USB3.0GEN1夹具替代厂商,USB3.0夹具销售国产USB3.0GEN1夹具替代厂商,USB3.0夹具销售国产USB3.0GEN1夹具替代厂商为了把5Gbps速率的数据传送较远的距离，USB3.0的发送端使用了去加重技术，这项测试可以测量DUT的去加重程度是否满足规范要求（要求在-3dB到-4dB之间）。测试时DUT发送出CP7码流，CP7码型由50-250个连续的1和50-250个连续的0重复交替组成，而且是添加了去加重的信号波形。图3为某USB3.0芯片的去加重测量结果，该芯片采用了-3.47dB的去加重。
单板采用夹板式HDMI连接器和2.92mm（3.5mm）可拆卸SMA头（带宽支持40Ghz）。
各通道skew差异小于±2ps。

力科于2009年4月发布了USB3.0的物理层测试解决方案，能提供端到端的互操作测试和兼容性测试，包括了Transmitter测试、Receiver测试、TDR测试。此外，力科还提供了业界的USB3.0协议层测试方案。
QualiPHY软件可以使USB3.0发送端的各项测试自动化，并生成多种格式的测试报告。在QualiPHY的USB3.0测试软件中，包括差分电压摆幅测试、去加重比值测试（De-emphasis ratio test）、眼图和抖动测试、扩频时钟测试（Spread Spectrum Test），图1所示为报告中的整体测试项目概览，列出了测试项目对应的Spec的条目，测试项目的名称，当前测试结果，测试判定条件等。

4. AC和DC共模电压测量
　　CTLE和FFE是线性均衡器。因此，这两种技术都会提升高频噪声，而产生信噪比劣化。但是，DFE在反馈环路中使用非线性元器件，使噪声的放大达到，补偿码间干扰（ISI）。图3示例了一个经过传输通道明显衰减的5Gbps 信号，和使用去加重、CLTE和DFE均衡技术处理之后的信号。

　　在通过有损耗的通道和线缆后，没有去加重的信号的眼图会产生ISI，闭合程度会变严重，而有去加重的信号的眼图是完全张开的。我们从这里可以看到，去加重的量影响着ISI和DDJ的值，进而影响接收机上的眼图张开度。
　　如前所述，USB 3.0中接收机一侧的均衡技术改善了ISI破坏的信号，ISI来自于参考通道和线缆中的频率相关损耗。去加重同理，其通过信号处理方法提升信号的高频成分。

上海精汐电子
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