镀层厚度 （X射线荧光法（XRF））JIS H8501-1999检测机构

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目前采用的涂镀层厚度测量方法主要有电量法、电解法、磁性/涡流测厚法、X射线测厚法、超声波测厚法以及光学测厚法等。

按有无破坏性，表面涂镀层厚度测试方法可分为有损检测和无损检测。有损检测方法主要有计时液流测厚法、溶解法、电解测厚法等，这种方法一般比较繁琐，主要用于实验室。目前也有便携式测厚仪，适合在现场使用。常用的无损检测方法有库仑-电荷法、磁性测厚法、涡流测厚法、超声波测厚法和放射测厚法等，各种无损测厚法均有成型的仪器设备，使用起来方便简单，且无需对表面涂镀层进行破坏。因此，该方法已得到了广泛的应用

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