| 产品名称 | 半导体开盖失效分析 XPS扫描电镜测试报告 第三方检测机构 |
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| 公司名称 | 质海检测技术（深圳）有限公司 |
| 价格 | .00/件 |
| 规格参数 | 品牌:质海检测 服务属性:第三方检测机构 服务类型:检测报告，测试认证 |
| 公司地址 | 深圳市宝安区新桥街道黄埔社区黄埔东环路408-1号101 |
| 联系电话 | 0755-23572571 18681488190 |
失效分析是芯片测试重要环节，无论对于量产样品还是设计环节亦或是客退品，失效分析可以帮助降低成本，缩短周期。
常见的失效分析方法有Decap，X-RAY，SAT，IV，EMMI，FIB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE等，因为失效分析设备昂贵，大部分需求单位配不了或配不齐需要的设备，因此借用外力，使用对外开放的资源，来完成自己的分析也是一种很好的选择。