| 产品名称 | 半导体先进测试，电线热老化试验 |
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| 公司名称 | 无锡万博检测科技有限公司 |
| 价格 | 100.00/件 |
| 规格参数 | |
| 公司地址 | 无锡市经开区太湖湾信息技术产业园16楼 |
| 联系电话 | 13083509927 18115771803 |
半导体先进测试，电线热老化试验
测量金属屏蔽层电阻和导体电阻比
(1)试验目的
测量金属屏蔽层电阻和导体电阻可以监视其受腐蚀变化情况，测量电阻比可以消除温度对直流电阻测量的影响。
(2)试验周期
交接试验
(3)试验方法
用双臂电桥测量在相同温度下的金属屏蔽层和导体的直流电阻。
(4)试验判断
与投运前的测量数据相比较不应有较大的变化。当前者与后者之比与投运前相比增加时，表明屏蔽层的直流电阻增大，铜屏蔽层有可能被腐蚀；当该比值与投运前相比减少时，表明附件中的导体连接点的接触电阻有增大的可能。
3.6 交叉互联系统试验
(1)交叉互联系统示意图
(2)交叉互联效果及构成
