开路的可能失效机理：
过电应力（EOS）损伤、金属电迁移、金属的电化学腐蚀、压焊点脱落、CMOS电路的闩锁效应、塑封器件的爆米花效应。
金属电迁移
金属的电化学腐蚀
CMOS电路的闩锁效应
| 产品名称 | 第三方失效分析检测，盐雾试验钢片 |
|---|---|
| 公司名称 | 无锡万博检测科技有限公司 |
| 价格 | 100.00/件 |
| 规格参数 | |
| 公司地址 | 无锡市经开区太湖湾信息技术产业园16楼 |
| 联系电话 | 13083509927 18115771803 |
第三方失效分析检测，盐雾试验钢片
纵观当今电子信息技术发展状况，自进入二十世纪后期以来发展尤为猛烈，而电子元器件作为发展电子信息技术的基础，一直扮演着十分重要的角色。于是，了解电子元器件失效分析也是人们一直关心的问题！开路的可能失效机理：过电应力（EOS）损伤、金属电迁移、金属的电化学腐蚀、压焊点脱落、CMOS电路的闩锁效应、塑封器件的爆米花效应。金属电迁移过电应力（EOS）损伤金属的电化学腐蚀压焊点脱落CMOS电路的闩锁效应塑封
纵观当今电子信息技术发展状况，自进入二十世纪后期以来发展尤为猛烈，而电子元器件作为发展电子信息技术的基础，一直扮演着十分重要的角色。于是，了解电子元器件失效分析也是人们一直关心的问题！
开路的可能失效机理：
过电应力（EOS）损伤、金属电迁移、金属的电化学腐蚀、压焊点脱落、CMOS电路的闩锁效应、塑封器件的爆米花效应。
金属电迁移
金属的电化学腐蚀
CMOS电路的闩锁效应
