电子电气产品及元器件-低气压试验测试-百检网

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1 《电工电子产品基本环境试验规程 试验M：低气压试验方法》 GB/T 2423.21-2008 低气压试验

2 《半导体器件机械和气候试验方法》第2部分：低气压 GB/T 4937.2-2006 / 低气压试验

3 《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1001 低气压试验

4 《电子及电气元件试验方法》 GJB 360A-1996 方法105 低气压试验

5 《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法105 低气压试验

6 《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548A-1996 方法1001 低气压试验

7 《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 方法1001 低气压试验

8 《过载传感器通用规范》 GJB5440-2005 3.5.8 低气压试验

9 《电工电子产品环境试验》 GB/T 2423.1-2008 低温试验

10 《过载传感器通用规范》 GJB5440-2005 3.5.2 低温试验

11 《电工电子产品环境试验》 GB/T 2423.5-2019 冲击

12 《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法2016 冲击

13 《晶体振荡器通用规范》 GJB 1648A-2011 3.6.40 冲击

14 《电子及电气元件试验方法》 GJB 360A-1996 方法207、方法213 冲击

15 《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-1996 方法207、方法213 冲击