水坝水罐高频导波雷达料位计

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水坝水罐高频导波雷达料位计波雷达发出的高频微波脉冲沿着探测组件传播，

水坝水罐高频导波雷达料位计遇到被测介质，由于介电常数突变，引起反射，一部分脉冲能量被反射回来。发射脉冲与反射脉冲的时间间隔与被测介质的距离成正比。
 
　　水坝水罐高频导波雷达料位计容器中存在两种不同介质，当上面一层的介质介电常数较小，而下面的介质介电常数较大时，高频微脉冲沿着探测组件传播遇到上层介质时，由于其介电常数较小，因而有极少的能量被这一层介面反射，而大部分能量穿透上层介质继续向下传播，遇到两层的介面时，

水坝水罐高频导波雷达料位计由于下层介质的介电常数较大，因而会有较大的能量被反射回来。因而导波雷达是可以测量两种不同介质的介面，其测量条件是上层介质不导电或其介电常数比下层介质介电常数小10以上。