光束质量分析仪

产品名称 光束质量分析仪
公司名称 武汉新特光电技术有限公司
价格 88888.00/个
规格参数 品牌:BeamWave
型号:STP-BeamWav
波长范围:350‐1100 nm
公司地址 武汉东湖新技术开发区流芳园南路18号光电工业园产业大楼301室
联系电话 18162698939 18162698939

产品详情

BeamWave系列光束质量分析仪具有高分辨率、测量速度快、测量功能更全面,无需繁琐的导轨等优点,仅需一台BeamWave即可测量所有的激光光束参数。包括光束发散角,光斑位置大小,三维能量分布,波前能量、相位分布,波前曲率半径等。BeamWave光束质量分析仪(M2仪,激光轮廓仪)的通用性强,连续和脉冲光束都能测量,适合用于激光分析、眼科仪器、科研级光学精密仪器的表面和波前测量等应用。

BeamWave传感器在一体式设备中同时提供强度和波前测量。这些传感器不是使用微透镜阵列进行波前采样,而是基于创新的数字波前技术, 因此,波前测量点的数量仅受提供高空间分辨率波前的相机分辨率的限制。BeamWave系列光束质量分析仪及高分辨率波前传感器,具有高分辨率、测量速度快、测量功能更全面,无需繁琐的导轨等优点,仅需一台BeamWave即可测量所有的激光光束参数,包括光束发散角,光斑位置大小,三维能量分布,波前能量、相位分布,波前曲率半径等。BeamWave光束质量分析仪(M2仪,激光轮廓仪)的通用性强,连续和脉冲光束都能测量,十分适合客户用于各类激光参数研究。

BeamWave系列光束质量分析仪采用的波前传感技术,它的原理是在CCD探测过程中,入射激光光斑会被分成两束激光,一快一慢分别先后的到达两个CCD探测器阵面上,得到两个光束图像。通过对比分析这两个图像的波前能量强度分布和波前相位分布可以分析出该光束的M2值、发散角、光束位置和其它传播参数。

我们的传感器配有GetLase 用于所有激光束参数和GetWave的即时诊断的GUI软件图形用户界面软件与全面的波前分析工具,包括,Zernike,MTF和PSF。已成功用于以下应用程序:

产品特征

计算机接口
型号STP-BeamWave500STP-BeamWave1000STP-BeamWave1500STP-BeamWave FIR
大输入光束直径1/e23.2mm4.8mm(双CCD)6.4mm10.88 x 8.16 mm
光束强度测量模式连续或脉冲,XYZ三轴测量
波长范围350‐1100 nm2-16 m
有效CCD口径3.2mm4.8mm6.4mm
CCD像元大小6.45 x 6.45μm17 m
M2测量功能连续和脉冲激光
M2范围1-50
M2精度±5%±5%±5%
M2重复性2%
波前测量功能
波前测量点数500×5001392×10401392 X1040640 x 480
波前灵敏度,rms0.005λ0.005λ3nm, >0.02λ
波前精度,rms0.01λ0.01λ6nm, >0.01λ0.01λ
波前动态范围1500λ1500λ1800λ1500λ
测量时间实时
重量0.35 Kg2.5 Kg1.15 Kg0.272 Kg
尺寸41×55×8087×161×84 mm114x72x172 mm61×67×66 mm
光学接口C-Mount
USB 2.0,Windows 7,XP,Vista
标配软件GetLaseGetLaseGetLaseGetLase
GetWaveGetWaveGetWave
供电USB供电,无需电源
可选项:3ND Filter, Beam Splitter Wedges, IR Converter,光束缩束和扩束, Beam Reducer/Expander2X,3X,4X
Software Development Kit软件,GetWave软件波长从紫外到红外的特定探测器(其他波长)

软件
提供GetLase 和GetWave  GUI软件,包括用于光束轮廓和波前分析的综合测量工具: