X射线荧光光谱镀层测厚仪

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X荧光镀层测厚仪EDX6000---标准款分析仪适用于镀层厚度测量及材料分析，具有无损，可靠，高生产力，高灵活性等优点，可用来定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量，是镀层样品品质检测、安全审核的有力工具 微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。