(1)基本分析样品的采样
各项探矿工程中按矿体(分矿石类型、品级)、并对可能含矿的岩石、矿化带及夹石连续取样，使所取样品能控制矿体、矿化带的顶底板界线。样品长度一般为1 m～2 m，以不大于矿体可采厚度为宜。
槽探、井探、坑探工程中通常采用刻槽法取样。一般样槽断面规格：银矿10cmtimes; 3cm或10cmtimes; 5cm，银矿化均匀者经论证还可以采用5cmtimes;3cm；氧化矿石中品位变化较大者还可采用15 cmtimes;5 cm。穿脉坑道一般在一壁腰线连续取样，矿化不均匀时可在两壁取样。沿脉坑道在掌子面或顶板取样，样品间距视矿化均匀程度而定，一般为5 m～10 m。通过试验也可以选择其他方法取样。
岩矿心取样一般沿其长轴方向劈取一半作为样品，应尽可能使用金刚石刀具分取。对不同回次的岩矿心直径或采取率相差较大者要分别取样。
(2)基本样品分析项目
一般为Ag,其它有用组分达到工业要求时，也应列入基本分析。
2、光谱全分析
为确定组合分析和化学全分析项目，在矿体不同空间部位、不同矿石类型(或品级)及某些围岩、蚀变带取样。样品可从基本分析副样中抽取或单独采取。
3、矿石化学全分析
为全面了解矿石中各组分含量，在光谱全分析基础上，按主要矿体、分矿石类型(或品级)采取组合分析副样或单独采取有代表性的样品。每种矿石类型或品级一般做1个～2个。