用途与性能
本设备广泛应用于通讯/芯片/传感器/等微电子研 发/生产所用的高温/常温/低温等三温可靠性及性能测试 解决方案。被测试样品在瞬间经极高温及极低温的连 续环境下忍受的反复抵抗程度。得以在Zui短时间内检测样 品因热胀冷缩所引起的化学变化和物理伤害,进而确认产 品品质。
设备型号:ETS-410-10S55 |
温度范围:-80℃~220℃ |
升温时间:-55℃~125℃约10S |
降温时间:125℃~-55℃约10S |
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特 点
A.国内领先技术
B.自主研发精准控制系统
C.高效提升生产效率
D.低能耗