集成电路高温动态老炼系统

集成电路高温动态老炼系统
一、产品概述

   试验标准：符合MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准要求；

   适用范围：适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路工作寿命试验和高温动态老炼筛选。

 

 

二、技术参数

技术参数

参数分类

参数名称

技术指标

试验箱

配置型号

高温箱一台，水平横向循环风道设计，温度更均匀，试验腔尺寸60cm×60cm×120cm。

试验温度

环境温度～175℃，试验箱温度控制精度：≤±1℃，试验箱温度均匀度：≤±3℃。

温度保护

独立的温度检测、监测、超温报警系统,当试验箱温度超过设定的温度时,自动声报警并切断高温试验箱的供电电源；避免由于高温试验箱温度波动或失控造成被试验器件损坏，使试验箱工作处于多重保护状态。

温度记录

电脑实时检测、记录试验箱温度，实时描绘试验箱的温度-时间曲线，在整个试验过程中实时监控高温试验箱的温度，防止试验箱温度波动导致器件失效。

区域容量

试验区域

标配16个区，可同时试验8种器件。

试验通道

32个通道。

试验容量

一级电源

电源配置

数量16台；规格0～40V/30A。

电源保护功能

每路电源均可恒压、恒流工作，具有过压、过流、短路、过热等保护功能。

电源检测记录

电源输出均计算机在线检测，记录描述全过程试验电压曲线，便于试验监控。

其他

输出电压的电源规格可按要求选配。

二级电源

电源路数

输出电源路数为：4路。

电源类型

VCC（正工作电源）、VEE（负工作电源）

VMUX（负载电源）、VCLK（信号电平）

输出幅度

VCC：+2.0V～+19.9V/10A、VEE：-2.0V～-19.9V /10A

VMUX：+2.0V～+19.9V /10A、VCLK：+2.0V～+18.0V/5A

保护功能

试验电源过压、欠压、过流、短路和过热等联动保护功能，确保试验电源的可靠性。

检测记录

电源输出均计算机在线检测，记录描述全过程试验电压曲线，便于试验监控。

数字信号

信号类型

数据、地址、控制及三态功能。

Zui高频率

1MHZ

Zui小编程分辨率

100ns

Zui大自由编程深度

256K

信号幅度

+2.0V～+18.0V

幅度编程步长

0.5us—524288us

寻址深度

64G（动态RAM/静态RAM）

Zui大驱动电流

I0L≤150mA，I0H≤100mA

参数分类

参数名称

技术指标

模拟信号

模拟信号数

每块控制检测板提供4路可独立编程的模拟信号。

波形类型

正弦波、三角波、前沿及后沿锯齿波、矩形波等5种。

频率范围

1Hz～32KHz

信号幅度VPP

±0.5V～±10V

幅度编程步长

0.1V

直流偏移量

0～±VPP/2

Zui大驱动电流

1A

 

驱动板

配置

16块

电压检测

在线检测全过程曲线记录VCC、VMUX、VCLK、VEE输出电压，检测范围：0.00V～±40.00V；精度：1%±1LSB；

信号检测

数字、模拟信号驱动，输入输出信号检测；系统每通道设计32路信号监测，定点或巡回检测器件输出信号的频率、峰值、谷值，也可通过示波器观察，判断失效情况。

老化板

基板

根据用户要求选配，标配基板TG170，特殊高温可按要求定制。

老化座

老化座Socket均采用耐高温、抗氧化、耐疲劳材料。

规格尺寸

280mm×600mm。

总线接口

100Pin+72Pin-2.54。

除此之外还提供 

HTRB高温反偏试验系统,正向恒流试验系统,车用整流桥功率循环试验系统,车用二极管功率循环试验系统,集成电路高温动态试验系统,集成电路高温动态老化系统,DC,DC模块高温老化系统,三端稳压器高温寿命老化系统等等电子元器件老化系统,大功率高可靠开关电源,

各种高压试验电源,

各种socket老化座,测试座,老化板,测试板,测试工装,治具,夹具和各种非标定制,方案解决。

十五年行业经验合作客户多为航天,,检测中心,以及上市公司,品质有保障。