帕特智能LIMS--高温对实验室设备的影响
更新时间:2019-07-09 15:11:38 信息编号:5110359 发布者IP:123.234.224.186 浏览:50次- 供应商
- 青岛帕特智能科技有限公司 商铺
- 认证
- 资质核验:已通过营业执照认证入驻顺企:第10年主体名称:青岛帕特智能科技有限公司组织机构代码:370214230210978
- 报价
- 人民币¥200000.00元每套
- 品牌
- P.T LIMS
- 型号
- V1.0
- 关键词
- 实验室管理信息系统,LIMS,信息化管理,第三方检测
- 所在地
- 山东省青岛市城阳区春阳路88号天安数码城32号楼创业大厦201室
- 联系电话
- 0532-55520718
- 手机号
- 15376909639
- 总经理
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产品详细介绍
(1)温度与平均无故障运行时间的关系——10℃法则
温度与平均无故障运行时间的关系:由于现代电子设备所用的电子元器件的密度越来越高,使元器件之间通过传导、辐射和对流产生热耦合。因此,热应力已经成为影响电子元器件时效的一个Zui重要的因素。对于某些电路来说,可靠性几乎完全取决于热环境。为了达到与其的可靠性目的,必须将元器件的温度降低到实际可以达到的Zui低水平。有资料表明:环境温度每提高10℃,元器件寿命约降低30%-50%,影响小的也基本都在10%以上,这就是有名的“10℃”法则。
(2)高温对元器件的影响
A、半导体器件。电子元器件在工作时产生大量的热,如果没有有效的措施及时把热三走,就会使集成电路和晶体管等半导体器件形成结晶,这种结晶是直接影响计算机性能、工作特性和可靠性的重要因素。
根据实验得知,室温在规定范围内每增加10℃,其可靠性约下降25%。
器件周围的环境大约超过60℃时,就将引起计算机发生故障,当半导体期间的温度过高时,其穿透电流和电流倍数就会增大。
B、电容器。温度对电容器的影响主要是:使电解电容器电解质中的水份蒸发增大,降低其容量,缩短其使用寿命,改变电容器的介质损耗,影响其功率因数等参数变化。由实验得知,在超过规定温度工作时,温度每增加10℃,其使用时间下降50%。
C、记录介质。实验表明:当磁带、磁盘、光盘所处温度持续高于37.8℃时,开始出现损坏;当温度持续高于65.6℃时则完全损坏。对于磁介质来说,随着温度的升高,磁导率增大;当温度达到某一个值时,磁介质丢失磁性,磁导率急剧下降。磁性材料失去磁性的温度称为居里温度。
D、绝缘材料。由于高温的影响,用玻璃纤维胶板制成的印制电路板将发生变形甚至软化,结构强度变弱,印制板上的铜箔也会由于高温的影响而使粘贴强度降低甚至剥落,高温还会加速印制插头和插座金属簧卡的腐蚀,使接点的接触电阻增加。
E、电池环境温度与寿命的关系。电池是对环境温度Zui敏感的器件(设备),温度在工作温度25℃的基础上,每上升10℃,寿命下降50%。
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