天线测量的主要方法
更新时间:2018-05-16 13:19:54 信息编号:5066531 发布者IP:116.226.191.10 浏览:197次- 供应商
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- 天线测量的主要方法*天线近场测量*天线远场测量
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产品详细介绍
天线测量的主要方法有哪些呢?天线测量主要是有天线近场测量,天线远场测量以及天线紧缩场测量,下面做出详细的介绍。
近场测量技术原理:探头在天线辐射近场区域采集天线近场区域辐射场的数据,再经近场到远场变换理论,由计算机处理得到天线的远场特性。
优缺点:不受远场测试中的距离效应和外界环境的影响,具有测试精度高,安全保密,可以全天候工作等一系列优点,而且通过核实的软件及成熟的校准理论,有效的补偿各种测量误差,其测量精度甚至可以优于远场测量,也是当前高性能天线测量的主要方法之一。但是,近场到远场变换理论要求同时已知近场幅度和相位信息,而近场扫描技术中相位信息测量难度较大,对机械系统,测量间距,取样点数,滤波等需要计算机仿真优化,以尽可能的减小测量误差。
天线远场测量技术原理:将待测天线架设在离地较高的支架上,在天线辐射远场区安装扫描探头,直接测量天线远场处的各项特性。http://www.microwavechamber.com/
优缺点:可直接测量得到天线的远场特性。不存在近场测量中变换理论误差等。但是,传统的远场受地面反射波的影响较大,很难达到特别理想的测量精度。除此之外,远场测量还受周围电磁干扰、气候条件、有限测试距离、环境污染和物体的杂乱反射等因素的影响,已经越来越难以适应现代卫星天线等各种复杂天线的测量要求。
紧缩场测量技术原理:在电磁环境与外界隔离的暗室中,将待测天线做为馈源,发送球面波,再经高精度抛物面金属板的反射面发射,而在一定远距离处会形成近似平面波区域(静区)。将扫描探头放置静区内,可以直接测量待测天线远场得到其远场特性。
优缺点:理想远场环境(暗室)下进行测量,能够很好的模拟和控制各种电磁环境,但是暗室造价昂过,一般情况下不会专门采用,对各种机械系统的精度要求非常。
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