MCW-2010A型涂层测厚仪漆膜测厚仪厂家

MCW-2010A型（涡流）涂层测厚仪漆膜测厚仪厂家产品简介

MCW-2010A型（涡流）涂层测厚仪是公司的新型产品。它采用抗干扰技术、测量精度高、数字显示、功耗低、内置探头全量程测量、机型小巧、操作简捷；且具有欠电指示、统计、系统/零点/两点校准功能，其性能已经达到国际同类仪器的先进水平。

MCW-2010A型（涡流）涂层测厚仪电涡流测量原理
高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。 

MCW-2010A涂层测厚仪应用领域

MCW-2010A涂镀层测厚仪是一种经济实用型便携式测量仪，能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量，既可用于实验室，也可用于工程现场，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料保护专业必备的仪器

MCW-2010A型（涡流）涂层测厚仪漆膜测厚仪厂家特点

操作便捷：.校准：可进行零点校准、两点校准及系统校准 
电量：具有欠压显示功能 
蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示 
关机：具有自动关机和手动关机两种方式 

MCW-2010A型（涡流）涂层测厚仪漆膜测厚仪厂家影响测量因素的有关说明

a 基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。

b 基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

c 基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

d 边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

e 曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

f 试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

g 表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。

MCW-2010A型（涡流）涂层测厚仪漆膜测厚仪厂家售后承诺

 我们的每一台产品出厂时都经过了严格的质量检验。
    我们为所有仪器提供了可靠的质量和高度责任感的服务。该仪器享受一年的保修期,主机质量引起的故障返本公司两次以上，予以更换新机。
本公司产品终身维护,保修条款以随机保修书为准。