CR5100MS 计算机X射线检测系统

VMI公司的旗舰CR产品5100MS已升级为***新的5100MS-C！ 采用当今进的光学和数字技术重新设计核心部件，完美实现16bit灰阶下高达25微米分辨率的对数影像采集，双丝像质计测量真实可达D13（10lp/mm）。5100MS-C 拥有目前市场上的信噪比指标，轻松超越国际上各行业***严格的标准要求。5100MS-C 可一次同时扫描多个圆形、方形、多边形等任意形状的影像板组合，只要总面积不超过14×17英寸；平面单路径扫描机制使其既可以扫描刚性暗盒也可以扫描软式暗盒，实现了多种尺寸的影像板可由一台CR扫描完成。通过VMI 5100MS-C采集的超高质量的数字图像，可满足***严苛的工业图像品质要求，事实上已具备彻底取代传统胶片的能力，并超越了对传统胶片的质量要求。VMI 5100MS-C可配合各种X射线机、加速器、伽玛源（钴60、铯137/134、铱192），实现从复合材料到极厚金属材料的检测。VMI 5100MS-C 是通过美军严格的环境和冲击测试的CR产品，各项指标符合美军标MIL-PRF 28800F和MIL-STD 810F。标配野外便携箱，可适应恶劣环境的外场应用。

● 卓越的CR数字影像设备

? 在整个扫描和擦除过程中影像板不会被弯曲

? 扫描擦除一步完成

? 在整个非接触式扫描过程中影像板无损伤、无需附加保护

● 创新专利的单路径、平面扫描方式，可兼容所有厂家、任意尺寸、厚度、形状的影像板

● 仅一个移动部件

? 易于操作与维护

? 提高了机械的精密度

● 真正的16bit对数采集处理，拥有市场上的信噪比指标，分类级别高于IP Special/50

? PMT、激光功率及扫描分辨率等扫描参数均支持精细调整，以达到扫描质量

? 超高信噪比指标，轻松支持高能射线应用