美国赛默飞FEI场发射扫描电子显微镜
更新时间:2019-12-24 09:49:35 信息编号:4849608 发布者IP:119.123.133.43 浏览:1345次![](http://img.11467.com/2019/11-22/3833379657.jpg)
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- 供应商
- 深圳市广润自动化设备有限公司 商铺
- 认证
- 资质核验:已通过营业执照认证入驻顺企:第9年主体名称:深圳市广润自动化设备有限公司组织机构代码:914403003500439166
- 报价
- 人民币¥1.00元每台
- 品牌
- 赛默飞FEI
- 型号
- Apreo
- 产地
- 美国
- 关键词
- FEI场发射扫描电镜,场发射扫描电子显微镜,场发射扫描电镜,扫描电镜
- 所在地
- 深圳市宝安区82区新安六路1003号华丰科技园521室
- 联系电话
- 0755-29234569
- 手机号
- 13631672362
- 销售助理
- 黄女士 请说明来自顺企网,优惠更多
产品详细介绍
美国赛默飞FEI场发射扫描电子显微镜
型号:Apreo
Apreo 材料科学应用
功能Zui为丰富的高性能 SEM
Apreo 革命性的复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术,可产生前所未有的高分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台,并且不会降低磁性样品性能。
Apreo 受益于独特的透镜内背散射探测,这种探测提供卓越的材料对比度,即使在倾斜、工作距离很短或用于敏感样品时也不例外。新型复合透镜通过能量过滤进一步提高了对比度并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模式现在的Zui大样品仓压力为500 Pa,可以对要求Zui严苛的绝缘体进行成像。
通过这些优势(包括复合末级透镜、探测和灵活样品处理),Apreo 可提供出色的性能和多功能性,帮助您应对未来的研究难题。
体验 Apreo SEM 带来的优势
● 独有的复合末级透镜可在任何样品(即使在倾斜时或进行地形测量时)上提供优异的分辨率(1 kV 电压下为 1.0 nm),而无需进行电子束减速。
● 作用极大的背散射探测 - 始终保证良好的材料对比度,即使以低电压和电子束电流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品进行 TV 速率成像时也不例外。
● 无比灵活的探测器 - 可将各个探测器部分提供的信息相结合,获得至关重要的对比度或信号强度。
● 各种各样的电荷缓解策略,包括样品仓压力Zui高为 500 Pa 的低真空模式,可实现任何样品的成像。
● 卓越的分析平台提供高电子束电流,而且光斑很小。样品仓支持三个 EDS 探测器、共面的 EDS 和 EBSD 以及针对分析进行了优化的低真空系统。
● 样品处理和导航极其简单,具有多用途样品支架和 Nav-Cam+。
● 通过用户指导、预设和撤消功能为新用户提供专家级结果。
- 德国蔡司ZEISS钨灯丝扫描电镜1.00元/台
品牌:ZEISS - 美国TADiscovery旋转流变仪HR1/HR2/HR31.00元/
品牌:TA - 美国TA差示扫描量热仪DSC25/DSC250/DSC25001.00元/台
品牌:TA - 美国TA动态热机械分析仪DMA 8501.00元/台
品牌:TA - 美国TADMA动态热机械分析仪Q8001.00元/台
品牌:TA - 美国TA流变仪ARES G21.00元/台
品牌:TA