x射线荧光元素分析仪SEA1000S1.分析条件的区别使用
x射线荧光元素分析仪SEA1000S以下是对各种样品的分析条件的推荐。
定量方法 分析条件文件 材料的种类 样品材料 样品部件举例 测定条件
块体标准曲线法 Cd
Cd,Pb
Cd,Pb,Hg,Br,Cr 塑料 聚乙烯(PE)
聚丙烯(PP)
聚苯乙烯(PS)
氯乙烯型塑料(PVC)
纸 等 遥控器盒子
Air Packing
合成电路板
包装材料 测定Cd
测定时间:100秒(推荐)
管电压:50KV
准直器:5mΦ
空气状态:大气
滤波器:Cd用
Pb、Hg、Br测定
x射线荧光元素分析仪SEA1000S测定时间:100秒(推荐)
管电压:50KV
准直器:5mΦ
空气状态:大气
滤波器:Pb用
测定Cr
测定时间:100秒(推荐)
管电压:15KV
准直器:5mΦ
空气状态:大气
滤波器:Cr用
测定PVC
与Cr同时进行测定,但是不需要测定Cr时建议测定时间为10秒
轻金属
(定量值的信赖性比测定塑料时更差) 铝合金
镁合金 电脑等整体
构造部件
其他的材料
(定量值的信赖性比测定塑料时更差) 塑料和金属等的复合材料
纸
玻璃
陶瓷
橡胶
染料
布 电线
接头(金属部分)
标签
镜片
IC包装材料
遥控器按键
带子
块体FP法 metal 金属
(不包括铝、镁) 钢材
铜合金
焊锡
钛合金 开关、螺丝、接头(金属部分)、音频端子、IC头 测定金属
测定时间:200秒(推荐)
管电压:50KV
准直器:5mΦ
空气状态:大气
滤波器:Cd用及Pb用
2.分析线的设定
以下是对于各有害物质的分析线的推荐。
测定元素 分析线
Cd Kα线
Pb Lα线
Hg Lα线
Br Kβ线
Cr Kα线
3。测定上的注意点
①在测定塑料样品时的注意点
建议使用的样品厚度在0。5mm以上,面积在φ5mm以上。建议多集中些小的样品并
将样品重叠或排列之后进行测定。
在测量线状(圆柱形)的样品时,请将样品竖着放在测量范围的中央,而且尽可能将样
品的底部保持平坦来放置。
在样品中含有砷(As)场合就算不含有铅,由于砷的影响会被误测定。另外在同时含有砷
和铅的场合铅的值会被较多地测定出来。
②在测定电线或接头等含有金属的塑料样品时的注意点
请将含塑料多的部分朝下放置。
如果定量结果超过基准值的时,请将金属部分除去再测定一次。
③在测定金属样品(不包括Al·Mg合金)时的注意点
在测定金属中的管理元素时,请使用「块体FP法(metal。bfp)」。
有必要将镀层和表面处理层除去之后对原材料部分进行测定。
④在测定Al·Mg合金样品时的注意点
在测定Al合金及Mg合金的样品时请使用「块体标准曲线法」。
定量值的信赖性要比塑料差。
有必要将镀层和表面处理层除去之后对原材料部分进行测定。
⑤在处理管理元素的测定结果比管理值高时的例子
请测定同一批的样品,确认是否出现相同程度的结果。
请确认在能谱中是否明显地出现管理元素的波峰。
请确认标准物质的测定是否正确。
在进行塑料分析时通过能谱确认是否含有大量的金属。
将测定所得到的能谱保存在电脑中,请将样品以ICP进行分析。
⑥其他
测量小样品时,荧光X射线较弱所以造成测量值的偏差变大。为了避免此种误差,
尽可能将样品大量集中来测量,这样的话,可以提高测量精度。
请从测量结果确认理论统计变动值(1σ)。如果这个值太大的话,请延长测量时间。
测量时间增加4倍的话,测量值的偏差将减少一半。
测量金属产品时,请使用FP法。
电镀样品也以块体来测量,所以只能做为是否存在的判定,定量值并非正确。
含有大量的Fe少量的Cr的情况,对于Cr的是否存在的判定的精度会变差。
含有大量的Sn少量的Cd的情况,对于Cd的是否存在的判定的精度会变差。
金属样品、玻璃样品等除了以塑料为原材料以外的样品的定量依赖性比塑料差。
关于六价铬和PBB·PBDB
通过荧光X射线装置得到的测定值是作为金属的Cd、Pb、Hg、Br、Cr的重量比。
测定得到的Cr的测定值不等于六价铬的量
测定得到的Br的值不等于PBB和PBDB的量
如果样品中含有Sn时、由于受到ComptonScattering的影响,所以会降低Cd的定量
结果的信赖性。 www.dorin17.com
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