新的MiniTest700涂层测厚仪产品线,加强了德国EPK(Elektrophysik)公司在全球涂层测厚市场的领导地位。
- 创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的性
- 测量范围达15mm,可F、N或FN探头,提供内置或外接探头
- FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错
MiniTest720涂层测厚仪优点一览 |
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- SIDSP使测量不受干扰,测值更加
- 可更换探头使用更加灵活(MiniTest740探头可由内置换为外置)
- FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
- 温度补偿功能避免温度变化引起的错误
- 生产过程中50点校准使仪器获得高度的特征曲线
- 大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
- 读数和统计值能单独调出
- 超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
- 菜单指引操作,25种语言可选
- 带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
- 可下载更新软件
MiniTest720涂层测厚仪技术参数
主机
主机型号 |
MiniTest720 |
MiniTest730 |
MiniTest740 |
探头类型 |
内置 |
外置 |
内置外置可换 |
数据记忆组数 |
10 |
10 |
100 |
存储数据量 |
Zui多10,000个 |
Zui多10,000个 |
Zui多100,000个 |
统计值 |
读值个数、Zui小值、Zui大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置) |
校准程序符合和规范 |
ISO、SSPC、瑞典标准、澳大利亚标准 |
校准模式 |
出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准,使用者可调节补偿值 |
极限值监控 |
声、光报警提示超过极限 |
测量单位 |
μm,mm,cm;mils,inch,thou |
数据接口 |
IrDA 1.0(红外接口) |
电源 |
2节AA电池 |
标准 |
DIN EN ISO
1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC- PA 2 |
操作温度 /存放温度 |
- 10℃~60℃/-
20℃~70℃ |
体积 |
157mm x 75.5mm x 49mm |
重量 |
约175g |
约210g |
约175g(内置)/230g(外置) |
MiniTest720涂层测厚仪技术参数
探头特性 |
F1.5,N07,FN1.5 |
F2 |
F5,N2.5,FN5 |
F15 |
F |
N |
F |
F |
N |
F |
测量范围 |
0~1.5mm |
0~0.7mm |
0~2mm |
0~5mm |
0~2.5mm |
0~15mm |
使用范围 |
小工件,薄涂层 |
粗糙表面 |
标准探头,使用广泛 |
厚涂层 |
测量原理 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感应 |
磁感应 |
电涡流 |
磁感应 |
信号处理 |
探头内部32位信号处理(SIDSP) |
度 |
±(1μm+0.75%读值) |
±(1.5μm+0.75%读值) |
±(5μm+0.75%读值) |
重复性 |
±(0.5μm+0.5%读值) |
±(0.8μm+0.5%读值) |
±(2.5μm+0.5%读值) |
低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm |
Zui小曲率半径(凸) |
1.0mm |
1.5mm |
5mm |
Zui小曲率半径 |
(凹,外置探头) |
7.5mm |
10mm |
25mm |
(凹,内置探头) |
30mm |
30mm |
30mm |
Zui小测量面积 |
Ø5mm |
Ø10mm |
Ø25mm |
Zui小基体厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm |
连续模式下测量速度 |
每秒20个读数 |
单值模式下Zui大测量速度 |
每分钟70个读数 |
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相关产品:MiniTest720 , MiniTest730 , MiniTest740 , 德国EPK , 涂层测厚仪
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