MatriX X2在线式X射线自动检测系统
更新时间:2024-02-01 14:59:57 信息编号:4611079 发布者IP:61.51.94.54 浏览:415次- 供应商
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- 报价
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- 品牌
- MatriX
- 型号
- MatriX X2
- 关键词
- X2在线式X射线自动检测系统
- 所在地
- 北京市海淀区厂西门路2号吉友大厦4015室
- 手机号
- 13911457960
- 工程师
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产品详细介绍
MatriX X2在线式X射线自动检测系统
透射 & 3D SFT
X2是一种先进的在线式x射线检测系统,它很好满足了当前生产线高速自动化检测的需求。
它利用透射式x射线技术结合Slice-Filter-Technology(SFT)技术很好地解决了双面PCB装联及其元件的检测问题。
X2 #的全自动检测应用CAD编制检查表来建立完备的检测模型库。
它的运动系统以及图像采集系统专门为满足高速化检测而设计。
X2 可进行离线编程。MIPS Tune就是其离线编程软件。它可实现自动CAD导入,CAD编辑及相关参数及检测方法的设定等。
所有的检测覆盖结果可被优化,分析及平衡处理。相关数据汇入专用的检测数据库。
MIPS_Process中的MIPS_Verify模块通过闭环纠错的方式,使用形象的图形及检测图像来验证检测对象有无缺陷,离线或在线状态都可进行。
此软件可与AOI系统平台结合使用。
MIPS_SPC 实时模块提供可即刻产线反馈的实时工艺控制。
系统特点
高速AXI系统扫描速度Max 6帧/秒. (5 平方英寸/秒)
透射式X射线技术结合3D Slice-Filter-Technology (SFT)
在线式传送轨道可自动调宽
微焦距X射线管(闭管)Max: 130kV
双重3/2英寸影像接收器
曝光时间可调的数码相机(1k x 1k )
视野可变的3轴可编程运动系统
图像自动灰阶及几何学调校
产品型号及序列号的条形码扫描(1D/2D)
图像处理特点
MIPS 硬件:
多核芯电脑工作站
Windows 7系统
MIPS 检测平台:
先进的运算库应对焊点及元件检测
Slice-Filter-Technique应对双面板工艺
自动树状分类(ATC)以生成相应规则
可显示测试范围及自动程序生成的离线编程软件
验证及制程控制
MIPS_Verify link 闭环维修控制
MIPS_Process实时SPC统计
应用
电子元器件和焊点检测
利用其拥有的先进运算库对电子领域及其PCBA的元件及焊点,混合装配或芯片级装配工艺进行有效的检测
所有SMD及插件标准元件
BGA and QFN封装的特别运算
冷却片/散热片的焊接空洞检测
规格
物理参数
外形尺寸: 60.5" (H) x 71" (W) x 62" (D) / 1550 mm (H) x 1800 mm (W) x 1600 mm (D)
传送轨道高度可调: Max950 mm (SMEMA)
重量: 7700 lbs. (3500 kg)
安全环境温度: 60° to 90° F (15° to 32° C)
电源功率: max 6 kW
电源电压: 400 VAC, 50/60 Hz 3 phase, 16A 或 208 VAC, 50/60 Hz 3 phase, 25 A
外接气源: 5-7 bar, < 2 l/min, 滤芯 (30μ), 干燥无油
运动系统
高速线性驱动样品台
行程范围: 510 x 405 mm
定位精度: +/- 5 μm
Z轴: X射线管Z轴运动以连续调整放大倍率
X射线
管电压及管功率: 130 kV / 16 W
功率: 功率可调
光点大小: 5 μm
射线管定位: End window tube
影像接收器
接收器类型: 3" / 2" 图像增强器
相机: 1028 x 1028 像素, 10 bit
视频输出: Camera link interface
图像显示: 19"高分辨率TFT屏
图像性能
检测区域
Zui大板尺寸: 18" (X) x 14" (Y) 460 mm (X) x 360 mm (Y)
Zui大检测区域: 18" (X) x 14" (Y) 460 mm (X) x 360 mm (Y)
视场分辨率
视场尺寸: 0.4" (10 mm) to 1.0" (25 mm)
空间分辨率: 20 LP / mm at min. FOV (7.5% MTF)
装配间隙
顶部 (包括板厚): 30 mm
底部 (除去板厚): 30 mm
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