几何失真测试卡

品牌：ESSER爱莎/Sine Image
型号：TE260
尺寸：1066.67 x600mm
材料：高清相纸
比例：16:9
类型：反射式 几何失真测试卡简介

几何失真测试卡TE260由正面和背面的两个不同的图表组成，其中一个有31行的点，另一个有15行的点，点阵卡可用于确定几何失真和色差。
 

镜头畸变扭曲专用畸变测试卡，Lens distortion  镜头畸变，畸变卡 畸变测试卡 几何失真卡。

镜头畸变是一种造成图像边缘附近的直线变成曲线的像差。它会给建筑拍摄和摄影测量造成问题。简单的近似表达式，ru = rd + krd3，ru是未发生畸变的图像光学中心到某点的半径，rd是畸变扭曲后的中心到该点的半径。根据k的符号不同，畸变可以是“桶形”或“枕形”。镜头畸变和畸变修正系数都可以在Imatest distortion中计算，其中还包括五阶和正切/反正切的畸变模型。SFRplus项目可以显示畸变损失了多少细节，以及对锐度和其他一些因素的影响。畸变严重的是广角镜头、远摄镜头和变焦镜头。畸变在近摄图像中往往比正常距离的图像更严重。畸变可以很容易地用软件修正。

Light fall off (vignetting) and sensornon uniformities  渐晕和传感器均匀性

光衰减（渐晕）是指在图像边缘附近变暗的现象。它在广角镜头上表现很显著。在Imatest Light Falloff (Uniformity)项目上可以得到检测。光衰减（渐晕）往往在广角镜头上严重的。缩小镜头光圈时，光衰减往往得到改善。它可以很容易的使用软件纠正。因为适量的光衰减可达到特殊的图像效果，所以并不总是需要完全处理它。Light Falloff (Uniformity) 也表征了不同传感器均匀性的差异 ，包括不良像素，动态范围的变化，脏点和噪音的差异。