两用涂层测厚仪

　　二、技术参数

　　A、测量范围：0-1000/2000um（超过1000um要提前告知厂家）

　　B、使用环境：温度：0℃-50℃湿度：20%RH—90%RH无强磁场环境下使用

　　C、公英制转换：um/mil转换

　　D、Zui薄基体：0.4mm

　　E、测量精度：±1%-3%

　　F、分辨率：0.1um/1um

　　G、外形尺寸：130mm×75mm×35mm

　　H、重量：180G

　　I、电源：二节（5号）碱性电池

　　三、显示说明

　　按下“ON/OFF”按键，在液晶显示屏上会显示um(公制)/mil(英制)单位，Fe表示基体为磁性，NFe表示基体为非磁性，把探头垂直压在空白基体上，按“ZERO”按键进行校零，则显示为“ZeroOK”，校零成功，进入测量状态。

　　四、使用说明

　　A、按下开关“”ON/OFF“，蜂鸣声响后，液晶显示屏上有显示时，仪器自动进入测量状态。

　　B、将探头垂直并快速紧压到被测量的涂层上，仪器通过探头自动测量涂层厚度，并通过显示屏把厚度值显示出来。由于厂家配送的基材和客户的基材有差异，测量结果有误差，使用者可以通过校准来修正。

　　五、仪器校准

　　A、校零将探头压在没有涂层的基体上（如果客户没有空的基体，可以拿砂纸把基体上的涂层磨掉）再按住校零键“ZER0”1秒钟，然后放开，显示屏上显示“ZeroOK”后，才能松开探头，否则校零失败。

　　B、目标点校准

　　1、根据要测量的涂层厚度，选择厂家配送比较接近的目标膜片。

　　2把膜片放在没有涂层的基体上，把探头压到膜片上测量，如果测出来的值与膜片不同，可以通过“ ”“—”按键来修正(修正时，探头不能再压在基体上)注意：校零和目标点校准时尽量在用户自己的空基体上进行，如果基体上有涂层，建议用户先用砂纸磨开一定面积，作为空基体使用，再进行校零。

 

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