HY2113-MB1A锂聚合物电池保护芯片 特价

 11.1.正常工作状态 此IC持续侦测连接在VDD和VSS之间的电池电压，以及CS与VSS之间的电压差，来控制 充电和放电。当电池电压在过放电检测电压（VDL）以上并在过充电检测电压（VCU）以下， 且CS端子电压在充电过流检测电压（VCIP）以上并在放电过流检测电压（VDIP 11.2.过充电状态 ）以下时，IC 的OC和OD端子都输出高电平，使充电控制用MOSFET和放电控制用MOSFET同时导通，这 个状态称为“正常工作状态”。此状态下，充电和放电都可以自由进行。 注意：初次连接电芯时，会有不能放电的可能性，此时，短接 CS 端子和 VSS 端子，或 者连接充电器，就能恢复到正常工作状态。 正常工作状态下的电池，在充电过程中，一旦电池电压超过过充电检测电压（VCU），并 且这种状态持续的时间超过过充电检测延迟时间（TOC）以上时，HY2113 系列 IC会关闭充 电控制用的MOSFET（OC端子），停止充 电，这个状态称为“过充电状态”。 过充电状态在如下 2 种情况下可以释放： 不连接充电器时， （1）由于自放电使电池电压降低到过充电释放电压（VCR）以下时，过充电状态释放， 恢复到正常工作状态。 （2）连接负载放电，放电电流先通过充电控制用MOSFET的寄生二极管流过，此时，CS 端子侦测到一个“二极管正向导通压降（Vf）”的 电压。当CS端子电压在放电过流 检测电压（VDIP）以上且电池电压降低到过充电检测电压（VCU）以下时，过充电状 态释放，恢复到正常工作状态。

正常工作状态下的电池，在放电过程中，当电池电压降低到过放电检测电压（VDL）以下， 并且这种状态持续的时间超过过放电检测延迟时间（TOD）以上时，HY2113 系列 IC会关闭 放电控制用的MOSFET（OD端子），停止放 电，这个状态称为“过放电状态”。 当关闭放电控制用 MOSFET 后，CS 由 IC 内部电阻上拉到 VDD，使 IC 耗电流减小到 休眠时的耗电流值，这个状态称为“休眠状态”。 过放电状态的释放，有以下两种情况： （1）连接充电器，若CS端子电压低于充电过流检测电压（VCIP）， 当电池电压高于过放 电检测电压（VDL）时，过放电状态释放，恢复到正常工作状态。 （2）连接充电器，若CS端子电压高于充电过流检测电压（VCIP）， 当电池电压高于过放 电释放电压（VDR）时，过放电状态释放，恢复到正常工作状态