1、本仪器采用非接触、光学相移干涉测量方法,测量时不损伤工件表面,能快速测得各种工件表面微观形貌的立体图形,并分析计算出测量结果。
2、适用于测量各种量块、光学零件表面的粗糙度;标尺、度盘的刻线深度;光栅的槽形结构镀层厚度和镀层边界处的结构形貌;磁(光)盘、磁头表面结构测量;硅片表面粗糙度及其上图形结构测量等等。 3、由于仪器测量精度高,具有非接触和三维测量的特点,并采用计算机控制和快速分析、计算测量结果,本仪器适用于各级测试、计量研究单位工矿企业计量室,精密加工车间,也适用于高等院校和科学研究单位等。
型号
wgl
在连续表面上,相邻二象素之间没有大于1 / 4波长的高度突变时:
1000一1nm
相邻二象素之间含有大于1 / 4波长的高度突变时:
130一1nm
测量的重复性:
δra≤0.5nm
物镜倍率:
40x
数值孔径:
φ65
工作距离:
0.5mm
仪器视场 目视:
φ0.25mm
摄象:
0.13×0.13mm
仪器放大倍数 目视:
500×
摄象(计算机屏幕观察)
2500×
接收器测量列阵:
1000x1000
象素尺寸:
5.2×5.2μm
测量时间采样(扫描)时间:
1s
仪器标准镜 反射率(高):
~50 %
反射率(低):
~4 %
照明光源:白炽灯
6v 5w
绿色干涉滤光片波长:
λ≒530nm
半宽度
λ≒10nm
本产品的加工定制是否,品牌是上海物光,型号是WGL