耀群 Q3+表面微粒子計數器

~美國 Pentagon QIII max(0.3um) and QIII Ultra(0.1miron) 
物體表面微粒子計數器產品目錄,對於做為表面微粒子檢測來說是必須的驗証工具且能夠使貴公司的客戶認可. 
供您參考.我們是美國 Pentagon  中國區唯一的總代理商.

目前報價 約 
Pentagon QIII max(0.3um) USD ex-work 
Pentagon QIII Ultra(0.1miron)  USD ex-work 
若要換算成RMB含  17%  （含進口關稅,運費保險,17% 增值稅 及相關進口費用） 
 正式報價 以 詳細報價單為主

QIII Max /Ultra更新功能： 
1. 新的取樣模式增加準確度 
2. 7" 800X480大觸控螢幕 (QIII+ 6"觸控螢幕) 
3. 改善取樣Probe插座.易拔插與更換 
4. 二個使用者可換電池插座.可熱拔插 (原廠標配2顆電池.充電器選配) 
5. 可利用USB下載資料 
6. QIII Ultra 可量測到0.1Micron 
以下為QIII Max &QIII Ultra 詳細粒徑分布： 
QIII Max QIII Ultra 
0.3um 0.1um 
0.5um 0.2um 
1.0um 0.3um 
3.0um 0.5um 
5.0um 1.0um 
10.0um 5.0um

適合使用單位: 
適合客戶群:  包裝材料廠商: 如包裝材, 無塵紙,.....等 
藥廠設備機台裝表面清潔驗証: 理瓶區,灌裝機, 分裝機, 藥廠包裝材料廠商: 如包裝材,.... 
半導體黃光, 蝕刻製程, 零件清洗商,設備清潔維護, 光電廠, 玻璃基板廠等 
對曝光機; 顯影機 ,蝕刻, 黃光 及偏光板貼附機台效果顯着 
Capture filter 能收集particles 由EDX 或FTIR分析particle 成分。 
適合單位 : PVD, CVD, Photo, Ion Plant, YE, QA, QC ,  Microntation , Etch, Diffusion..