DAGE X-ray

Dage x-ray  

Dage X光检测系统专为印制电路板 (PCB) 和半导体行业设计，并且采用了符合人体工程学的设计，可提供高分辨率纳米级焦距 X射线系统，不仅可用于实验室故障分析，也可用于生产环境。

DAGE X光检查机的 Dage NT 密封传送型 X 射线管是 Dage NT X 射线检测系统的核心部件. 其取代了早期系统中使用的闭合式管和开放式管，性能得到了很大的提升。只有采用密封传送管才能切实提高 X 射线图像的分辨率，同时还能提供大功率，而不影响分辨率和放大率。

产品型号：

1.DAGE XD7500VR Jade FP X光检查机

XD7500VR Jade FP配备开放式透射型 X 射线管，是一种用于PCBA 生产质量控制的经济效益型设备。

高分辨率 - 950nm (0.95um) 特征识别
Zui高电压160KV，标靶功率: 3W
高倍放大 - 1400倍几何放大倍率，4200倍系统放大倍率
Zui大检测样品尺寸：736 x 580 mm

Dage VR 开放式 X 射线管是 DAGE XD7500VR X 射线检测系统的核心部件。该产品为偏向保留开放式管技术的客户提供了入门级系统。它可实现：30 - 160 kV 下，950 nm 级特征识别，Zui高功率可达 3W

2.DAGE XD7500VR Jade Plus X光检查机

Jade Plus采用开放式X射线管，钨丝可更换，Zui高在3 W功率下可达1μm特征分辨率。

X射线灯管： 开放式透射管
特征分辨率：0.95 μm
靶功率：3 W
电压：30 - 160 kV
分辨率：1.33 MP
检测区：510 x 445 mm (20 x 17.5”)
放大倍率：高达7500倍

3.DAGE Quadra 5 X光检查机 - 灵活的 X-射线具有检测到 0.35um 缺陷的功能。

Quadra5 具有出色的放大倍率和功率，可用于PCB、半导体封装和晶圆级检测以及故障分析和成品质量控制。

Quadra 5 所使用的密封式透射管技术更优于开管技术，能在不降低分辨率和放大倍率的前提下提供高功率。

系统规格

射线管类型：QuadraNT 密封式透射管
特征分辨率：10瓦以内0.35微米，20瓦以内0.95微米
Zui大功率：10瓦（可选配20瓦）
电压：30 - 160千伏
Zui大几何放大倍率：2500倍
Zui大总放大倍数：45,000倍

4.DAGE Quadra 7 X光检查机

Quadra 7 具有0.1 µm 特征分辨率，可实现超高清图像，是理想的故障分析和生产质量控制X射线检测设备。随着组件和电路板的尺寸越来越小，Quadra 7 可帮助您满足当前和未来的质量需求。

Quadra7 具有出色的放大倍率和功率，可用于PCB、半导体封装和晶圆级检测以及故障分析和成品质量控制。包括电子封装和晶圆级制造、汽车、能源和航空航天电子产品检测和 LED 制造等在内的广泛行业使用。

效果良好的图像质量

Quadra 7 双4K超高清显示器可让您享受以下便利：
0.1微米的亚微米特征分辨率
670万像素的X射线图像匹配高分辨率闪烁体
800万像素的显示器
像素间距为50微米的平板探测器
特征识别在0.3微米时功率达20瓦
对具有挑战性的应用提供高对比度检测
实时图像处理

射线管类型：QuadraNT 密封式透射管
特征分辨率：10瓦以内0.1微米，20瓦以内0.3微米
Zui大功率：20瓦
电压：30 - 160千伏
Zui大几何放大倍率：2500倍
Zui大总放大倍数：68,000倍

显示器：双，24寸，4K超高清画质，分辨率为3840 x 2160

5.DAGE XD7800NT Ruby XL X光检查机 - 大板应用解决方案

DAGE XD7800NT Ruby XL X光检查机是用于大尺寸样品的X光无损检测的系统，检测区域范围可达 96 x 67 cm (37.9” x 26.4”) ，是大板应用的理想解决方案。

优点

Nordson DAGE NT500 免维护、密封传送型 X 射线管
经验证的 < 0.5 μm 特征识别 160 kV 管（10 W 靶功率）
始终保留次微米能力
Nordson DAGE 2 Mpixel @ 25fps XiDAT3 数字图像增强仪，提供实时图像增强功能
几何放大 1,800 X，系统 7,800 X 以及总计 23,400 X 数字放大
Zui大检测尺寸 1205 x 672 mm
70° 斜角视图，而不会损失放大
两个 24” TFT LCD 监视器
AXiS - 主动式 X 射线图像稳定
对于自动执行检测任务，不要求具有编程技能

Dage X光检查机测试仪设计满足PCB和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。